HPS2526/HPS2524 精密方块电阻测试仪可方便地测量塑料薄膜、金属镀层方块电阻(每平方厘米电阻量值)的仪器。均匀金属薄层的厚度可用单位面积所体现的电阻表征,由于方阻与镀层厚度成反比,也就可以由方阻计算出镀层厚度。仪器配有专用结构设计的四探针探头和面测夹具,使得测试时压力恒定,接触可靠,可更详细地分析薄膜金属化的质量。
HPS2526/HPS2524 精密方块电阻测试仪可方便地测量塑料薄膜、金属镀层方块电阻(每平方厘米电阻量值)的仪器。均匀金属薄层的厚度可用单位面积所体现的电阻表征,由于方阻与镀层厚度成反比,也就可以由方阻计算出镀层厚度。仪器配有专用结构设计的四探针探头和面测夹具,使得测试时压力恒定,接触可靠,可更详细地分析薄膜金属化的质量。