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对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
C、(tan δ), Q测试,低电阻测量 测试源频率:1kHz,1MHz 测量时间:1.5ms(1MHz) RS-232C,GP-IB
3506-10
产地:
品牌:日本日置
主要技术参数:对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度● 1kHz...
市场价:¥0
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