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产品资料-日本日置HIOKI 3506-10 C测试仪

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来源:宜器服务网 | 下载次数:1次 | 资料大小:13.88 MB | 所需积分:0 分 | 上传日期: 2021-04-08 | 浏览次数:

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对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

C、(tan δ), Q测试,低电阻测量 测试源频率:1kHz,1MHz 测量时间:1.5ms(1MHz) RS-232C,GP-IB

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