蔡司Xradia Context是一款大视场、非破坏性3D X射线微米计算机断层扫描系统。凭借强大的平台和灵活的软件控制源及探测器定位，您可以在完整的三维环境中对大尺寸、重量25 kg内和高尺度样本进行成像，同样也可以对小样品进行高分辨率的成像。
可以对在完整的电子元件、大型原材料样品或生物样品上获取立体三维(3D)数据。
进行非破坏性失效分析，无需切割样品或工件，可识别内部缺陷。
表征和量化材料中性能定义的异质性，如孔隙率、裂缝、杂质、缺陷或多相。
通过非原位处理或原位样品操作进行4D进展研究
可连接到蔡司关联显微技术环境，进行非破坏性3D成像来识别感兴趣的区域，以用于随后的高分辨率2D或3D电子显微镜成像的定位。