Chroma 58212-C是一台具备精准控温、多点测试、自动化的外延片 (Epitaxial Wafer) / 芯片(Chip) 探测针光电应用测试设备，提供快速且准确的光电性能量测，广泛的应用于雷射二极管 (Laser Diode) 和发光二极管 (Light-Emitting Diode) 等产品。
58212-C的点测系统采用了灵活的设计，提供不同类型的光电组件测试，包括水平结构(Lateral)、垂直结构(Vertical)和倒装芯片 (Flip Chip)；测试前的扫描程序可提供完整的晶圆扫描图以保证测试的精度；专利探针头可防止待测物刮伤并确保每一个芯片接触。
此机型提供多点测试 (multi-site) 设计，透过客制化的架构可支持一次下针测试多点位置，此设计可稳定测试并节省测试时间，增加测试效能。
透过致茂的独特光学设计可取得精确且稳定快速的光学数据，如: 光功率、中心波长、峰值波长、半峰全宽及色温等，量测光学的同时也可获取电性数据，如: 顺向电流、顺向电压、漏电流、逆向崩溃电压、斜率效率、光电转换效率等，以上光电测试皆在一次下针的时间内完成。
软件操作接口及先进的逻辑算法，可使得生产效益大幅提升；完善的测试报表与良率统计供使用者轻松掌握生产状况。