Chroma 7925为自动化TO-CAN封装外观检测系统，可提供封装前后的透镜与金属外盖缺陷进行检测。透过高解析度之镜头以及多样的光源配置，可检出30um以上的透镜刮伤及异物。由于载盘可能存在制造公差导致待测物对焦距离均不相同，Chroma 7925配置了自动对焦系统，可自动计算待测物之对焦距离并进行补偿，以确保可以取得清楚的检测影像。
使用者可以自由设定良品与不良品之规则及缺陷编码，并依据编码进行挑拣。从上片、检测、挑拣及下片均为全自动化流程，大幅降低人员操作及制程管理发生错误的机会。检测完成后，工程师可以取得详细的缺陷量化数据，以及储存缺陷影像以利于再判读。相较于人工目检无法保留检测资料，使用Chroma 7925所取得之资料，将有助于分析制程问题，并进一步提升产品良率。