Chroma 3260是一款新型的测试机可供多组PCB level平行测试的大量生产机具。3260可配合多数不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、μBGA、PGA 及CSP封装。测试机采用取放的技术，可从JEDEC夹盘来拾取IC，移动到测试位置，然后将测试后产品放置于适当之Tray盘。
Chroma 3260以并排平行方式，进行测试。在高温下具有自动温度冷却(ATC)功能，其范围从摄氏50度到125度可测试1至6个测试座。
产品性能特点
靠的高速Pick&Place分类机
同步吸嘴双取及双放设计
具备处理QFP的能力
无测试座损坏的问题
浮动头可有效率衡测试压力
IC残留检测功能
发明专利字号190373, 190377,1227324 & 125307
温度控制系统
三温变温控制
主动热控模块 (ATC)
高解热温控模块 (PTC)