Chroma 3270是一款创新的微型IC测试分类机，特别适合CMOS影像感应元件(CMOS Image Sensor,CIS)量产所需，Chroma 3270可配合多种不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、μBGA、PGA及CSP封装。Chroma3270采用Pick&Place技术，可从JEDEC夹盘来拾取IC,移动到测试位置，然后将测试后产品置于适当之Tray盘。
chroma 3270能同时处理32个待测物进行平行测试，并提供50℃~125℃高温测试选择。不但能提高产量，提升生产良率，同时大幅降低测试成本。
产品性能特点
适合CMOS影像感应组件量产需求
可靠的高速Pick&Place:分类机
3x3mm微型IC处理能力
浮动头可有效率平衡测试压力
IC残留检测功能