Chroma射频芯片测试仪35806是专为RF ATE 测试而设计。使用者可结合现有的Chroma 3380/3650/3680系统，快速升级扩充为完整的射频芯片测试方案。35806测试仪和3380/3650/3680系统在软硬件之间实现了全面性整合，能够迅速且无缝地提供RF ATE测试功能。
35806测试仪也为IoT物联网连接应用提供完整的解决方案。无论是Wi-Fi、Bluetooth蓝牙、Zigbee还是其他标准，35806测试仪都能轻松支持并提供高质量的测试与验证功能，确保产品在不同测试环境中的可靠性和稳定性。另外， 35806测试仪采用具备未来趋势的软件定义无线电 (SDR) 架构，具有优良的扩展性，可以轻松适应未来的无线测试标准和新技术。
此外，35806测试仪提供完整且人性化的RF/ Digital debug工具，并支持任意信号产生器和除错工具，让用户能够轻松进行故障排除和问题解决。35806亦提供生产自动化软件的API，快速整合于现有生产线中，以简单易用的R&D/QA 人机接口，让操作和设置变得更加轻松。
产品性能特点
专为RD/QC使用者打造
简单易用的RD/QC人机接口
完整的测试案例和数据
内建信号数据库以符合生产测试需求
RF ATE自动测试
可整合到现有的Chroma 3380/3650/3680 ATE测试方案
友善使用者的除错工具
物联网全方位测试解决方案
Software Defined Radio (SDR) 架构，
内含VSG/VSA功能
6GHz频率范围
RF端口: 双向和发送 (Tx)广播功能
完整调制支持
任意波形产生器和除错工具
用于生产自动化程序编程的API
射频性能
8射频端口
中频频宽: 200MHz
最大频率范围: 300KHz~6000MHz
Chroma 3380/3650/3680数字性能
最高1Gbps数据速率
最高2048 I/O pins
最高128CH DPS
最高支持2048个DUT平行测试