1871的测试功能为层间短路测试(IWT)，是把关芯片电感质量的测试系统。此系统也承袭Chroma 19301A 绕线组件脉冲测试器所有的判断功能，包含波形面积比(Area)、放电二次微分侦测(Laplacian)及新的测试判断功能波峰降比(Δ Peak Ratio)、共振波面积比(Δ Resonant Area)。为因应现今电子产品，薄型化的电感器被大量使用，相对的也需大量生产，Chroma 1871最大生产效率为每分钟1,500个，可满足庞大产能需求。利用一次5组层间短路测试站同时测试来达到快速量产。亦可选择仅搭配2组层间短路测试站给予不需量产的研发或品保等单位使用，以符合最佳的成本效益。
