Chroma 19501-K 局部放电测试器结合高电压耐压测试与局部放电(Partial Discharge)侦测功能于一单机,提供交流电压输出最大10kV,漏电流量测范围从0.01uA~300uA,局部放电侦测范围最小可侦测1pC放电量,针对高压半导体元件及高绝缘材料测试应用所开发。产品设计符合IEC 60270-1与IEC60747-5-5法规要求,同时内建IEC 60747-5-5法规之测试方法在仪器内部,满足光耦合器产品生产测试需求,并提供给使用者一个便利操作介面.
Chroma 19501-K 局部放电测试器结合高电压耐压测试与局部放电(Partial Discharge)侦测功能于一单机,提供交流电压输出最大10kV,漏电流量测范围从0.01uA~300uA,局部放电侦测范围最小可侦测1pC放电量,针对高压半导体元件及高绝缘材料测试应用所开发。产品设计符合IEC 60270-1与IEC60747-5-5法规要求,同时内建IEC 60747-5-5法规之测试方法在仪器内部,满足光耦合器产品生产测试需求,并提供给使用者一个便利操作介面.