致茂58620为一个全新概念机种，专门为激光半导体(Laser Diode)所打造的设计，搭配自动化特性检测多合一设计概念，并进行不同的测试项目同时进行检测；搭配高容量的载具设计，可供多颗激光芯片(Chip level)进行大量测试；另外通过由光学定位辅助(AOI)，可提升自动化检测的速度舎可靠测的速度与可靠性，另选的这的测的速测测试 了解激光半导体特性与温度的关系。
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