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台湾Chroma 3380D VLSI 测试系统

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来源:宜器服务网 | 下载次数:1次 | 资料大小:843.01 KB | 所需积分:0 分 | 上传日期: 2021-04-23 | 浏览次数:

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3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能(High Parallel Test),除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外,更具备any-pins-to-any-site高同测功能(256数字信道管可并行测256个测试芯片),以因应未来IC芯片更高的测试需求。


Chroma 3380D VLSI 测试系统

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