3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能(High Parallel Test)，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外，更具备any-pins-to-any-site高同测功能(256数字信道管可并行测256个测试芯片)，以因应未来IC芯片更高的测试需求。
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