3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能(High Parallel Test),除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外,更具备any-pins-to-any-site高同测功能(256数字信道管可并行测256个测试芯片),以因应未来IC芯片更高的测试需求。
3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能(High Parallel Test),除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外,更具备any-pins-to-any-site高同测功能(256数字信道管可并行测256个测试芯片),以因应未来IC芯片更高的测试需求。