此系列机型之一的VLSI测试系统3380,具有最高1280 I/O pins、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色;可符合高同测的市场驱势,具备1024 I/O pin可同测1024个芯片的能力。除了独特的4-wire高密度IC电源(VI source)外,弹性化可调整的架构还可提供Mini&Macro LED驱动IC、CMOS影像传感器(CIS)、及3D影像测试等解决方案;以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。
此系列机型之一的VLSI测试系统3380,具有最高1280 I/O pins、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色;可符合高同测的市场驱势,具备1024 I/O pin可同测1024个芯片的能力。除了独特的4-wire高密度IC电源(VI source)外,弹性化可调整的架构还可提供Mini&Macro LED驱动IC、CMOS影像传感器(CIS)、及3D影像测试等解决方案;以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。