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美国泰克 Keithley 参数化测试系统

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来源:宜器服务网 | 下载次数:0次 | 资料大小:4.83 MB | 所需积分:0 分 | 上传日期: 2021-04-27 | 浏览次数:

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当今的模拟和功率半导体技术(包括 GaN 和 SiC)要求进行参数测试,以便最大限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及最大限度降低测试成本。40 多年来,吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战,这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类(例如,晶片验收或已知的良好芯片测试),以及可靠性。


型号:S530 / S540 / S500


泰克  Keithley  参数化测试系统

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