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产品资料-德国RETSCH XRD-Mill McCrone 研磨仪

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来源:宜器服务网 | 下载次数:0次 | 资料大小:546.16 KB | 所需积分:0 分 | 上传日期: 2024-12-24 | 浏览次数:

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XRD-Mill McCrone是专门为后续X射线衍射(XRD)分析的样品制备而开发的。该研磨仪可用于地质学、化学、矿物学和材料科学、质量控制以及科学研究的应用。
由于其独特的研磨运动,XRD-Mill McCrone对这种分析方法特别有效。48个圆柱形研磨元件通过摩擦轻轻地研磨样品。其结果是研磨时间短,几乎没有样品损失,而且粒径分布特别窄,因此可以进行非常好的相位分析。 完整保留了晶格结构,为有效X射线衍射分析提供了先决条件。
研磨容器由一个容量为125毫升的聚丙烯罐组成,配有一个螺旋盖的无垫片聚乙烯封口。罐子里装满了48个相同的圆柱形研磨元件的有序排列,有玛瑙、氧化锆或刚玉等材质。实现最佳微粉化的研磨时间在3到30分钟之间。典型的样品量在2到4毫升之间。 为了后续用于X射线衍射分析的有机样品制备,我们还提供了由玛瑙制成的研磨套件。

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