多规格可选:用户可根据被测样品尺寸选择对应的磁导计。
单磁轭:测量单片非晶样品时采用,以避免上磁轭的自重对样品产生应力而使材料的磁性能恶化。
双磁轭:对磁轭进行退磁及测试磁轭的损耗时采用;测量其他软磁材料如硅钢片时也需要将上磁轭盖上。测试线圈:包含框架、初级绕组、次级绕组和位于试样下方的 H 线圈。
型号:TD8725-35 / TD8725-65 / TD8725-150 / TD87250-220 / TD8725-310
多规格可选:用户可根据被测样品尺寸选择对应的磁导计。
单磁轭:测量单片非晶样品时采用,以避免上磁轭的自重对样品产生应力而使材料的磁性能恶化。
双磁轭:对磁轭进行退磁及测试磁轭的损耗时采用;测量其他软磁材料如硅钢片时也需要将上磁轭盖上。