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杭州远方光电 LED热结构分析测试系统 TRA-300 - 产品资料

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来源:宜器服务网 | 下载次数:0次 | 资料大小:694.57 KB | 所需积分:0 分 | 上传日期: 2022-09-26 | 浏览次数:

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● 用于LED封装产品的热阻、结温及分层热阻结构的精密分析;

● 采用TRA专用软件进行结构函数分析,可以获得LED精细的热阻结构(从芯片至各封装结构的热阻值),从而客观评价LED封装产品的散热质量和热管理水平,为LED的散热设计提供最好的验证。

 

主要参考标准

● EIA/JESD 51-1~14 Integrated Circuits Thermal Measurement Method

● MIL-STD-750D Test Method for semiconductor Device

● SJ 20788-2000 半导体二极管热阻测试方法

● GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电流第二部分:整流二极管

● QB/T 4057-2010 普通照明用发光二极管性能要求    

LED热结构分析测试系统 TRA-300

   


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