远方VNF-200 VCSEL近场特性分析仪专为VCSEL的表面近场特性分析设计，兼具测量速度快、光学分辨率高、测量精度高的特征。仪器采用显微光学系统与成像系统结合的方式，并依据VCSEL的特性优化设计，实现VCSEL的高倍率显微成像辐射分析。通过单次测量得到VCSEL表面二维阵列排布、坏点检测及辐亮度数据，同时得到单点尺寸。配备专用分析软件，可输出符合标准的测试报告。适用于产线及实验室中VCSEL表面特性的快速、精确分析。
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