扫瞄式的表面绝缘电阻量测系统(SIR-2006B-250V)，可扩充达200轨的迁移量测，而且突破传统扫瞄式表面绝缘电阻量测系统的极限，无法记录迁移结束时间还有纪录迁移发生时间，让客户以最少的设备成本，可以得到最大的生产效益。
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