博电科技PST6747A半导体参数分析仪是一款测量与分析功率半导体器件I-V特性的专用仪器，能 在3kV （可扩展为10kV）和2200A的条件下实现精确测量、分析功率半导体器件的静态参数。 PST6747AM有快脉冲能力，以及fA电流检测能力，并具有优异的宽电压和电流测量能力。这些功能能够对最新的器件（例如IGBT）和新型材料（例如GaN和SiC）进行测量。
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