FISCHERSCOPE®X-射线 XDL®和XDLM®光谱仪与 XUL 系列密切相关。主要组件（例如探测器，X射线管和滤波器组合）是相同的，但两者有一个显着的区别：XDL和XDLM设备是从上到下进行测量，这意味着可以方便地分析非平面样品-复杂形状不再是难题！
自上而下的测试方式还有另一个优点：可以很容易地实现自动测量。 XDL240和XDLM237配备了可编程的样品台，非常适合扫描样品表面。 因此，您可以检查较大部件上的镀层厚度，或自动逐个测量大量的小部件。
与XUL系列一样，XDLM中的“ M”代表“微聚焦管”。 这意味着这些设备特别适合分析小样品。 XDLM的测量点直径仅为0.1毫米，非常适合电子行业。
