FISCHERSCOPE® XDV®-μ光谱仪是Fischer的高端 X射线荧光 (XRF) 系列，为精确测量最微小结构的膜厚和材料分析而开发。所有设备都配备了多毛细管光学系统，能将X射线光束聚焦到10 μm FWHM。多毛细管和数字脉冲处理器DPP+的组合提供了出色的测量结果，确保了高计数率和更好的标准偏差或更短的测量时间。此外，各种滤波器以及电压和电流设置可以为多达24个元素的复杂应用提供最佳的激发条件。
所有 Fischer 的 XRF 仪器都配备了成熟的 WinFTM 软件，这是市场上功能最全面的软件。它适用于许多行业和应用，提供广泛的功能，例如自动图案识别、指导校准过程或完全可定制的报告。
为电子工业而优化。测量ENIG和ENEPIG的新水平
新的FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ带有数字脉冲处理器DPP+，性能显著提升，是测量化学镍/化学金（ENIG）或化学镍/化学钯/化学金（ENEPIG）涂层的最佳解决方案。
此资料适用于以下型号：FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-μ /XDV ®-μ LD/FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-μ WAFER
