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日本三丰 半导体检测用显微镜单元 FS-70系列 - 产品资料

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来源:宜器服务网 | 下载次数:1次 | 资料大小:1.21 MB | 所需积分:0 分 | 上传日期: 2023-06-17 | 浏览次数:

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带目镜观察的小巧型显微镜单元。

适用于采取YAG激光(近红外、可见、近紫外、紫外)进行微细加工*。

无法保证配有激光系统产品的性能及安全性。

支持红外光学系统。

晶体硅的内部观察,红外光谱特征分析等。

另外需要红外光源和红外像机。

拥有支持明视场、暗视场、偏振光及微分干涉对比观察型号的产品。

内倾转塔和超长工作距离的物镜确保了显微镜下的高可操作性。


此资料适用于以下型号

FS70ZFS70ZD
FS70LFS70L4
FS70Z-THFS70ZD-TH
FS70L-THFS70L4-TH


半导体检测用显微镜单元 FS-70系列

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