消费者的多样化需求,导致车上搭载的电子设备增多(LED大灯、液晶显示屏、车载音响、无线充电器等等),而这些电子设备均需要供电。牵扯到电,各类安全性测试就是重中之重。
本次想和大家分享的是load dump测试,即抛负载测试。
load dump测试
抛负载测试
01
基本概念:
①load dump: 即抛负载,指汽车交流电机工作时,蓄电池短路导致负载突降的现象,抛负载会导致发电机产生浪涌电压,该电压会对各类电子设备造成较大损伤。
②ISO 16750: 汽车电子安全性规范,其中16750-2针对的电子设备测试,涵盖了load dump测试。
02
Load dump测试方法:
通过可编程电源,模拟抛负载发生时的浪涌电压波形,并将其输出至电子设备端,通过数次测试判断电子设备如能正常工作,即表明该电子设备通过测试。
浪涌电压波形:
U:测试电压
t:时间
td:持续时间
tr:上升时间
UA:正常工作电压
Us: 最大电压
Us*:最大电压(含抛负载保护器)
图中a b为回路是否设置抛负载保护器对应波形。
电子设备经受规定次数抛负载波形,通过受影响表现划分5个等级:
01
A类:
设备或系统在暴露于干扰期间和之后,能执行其预先设计的所有功能。
02
B类:
设备或系统在暴露于干扰期间,能执行其预先设计的所有功能,但有一项或多项指标超出规定偏差。所有功能在移除直接暴露干扰之后自动回复到正常允许范围内。预先设计功能维持A类水平。
03
C类:
设备或系统在暴露于干扰期间,不执行其预先设计的一项或多项功能,但在直接暴露干扰之后能自动回复到正常操作状态。
04
D类:
设备或系统在暴露于干扰期间,不执行其预先设计的一项或多项功能,直到移除直接暴露干扰之后及通过简单的“操作或使用”回复动作之后才能自动恢复到正常操作状态。
05
E类:
设备或系统在暴露于干扰期间和之后,不执行其预先设计的一项或多项功能,且如果不修理或不替换设备或系统,则不能恢复其操作。
针对load dump测试,推荐德国GMC-I高美测仪的SYSKON P系列电源,优势如下:
01
响应时间短(小于2ms)
02
编程(可导入/导出储存波形文件,模拟测试波形)
03
精度高(0.05%+30mV)