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5G时代下常用的电阻率测量方法你了解多少?

2020-09-08 来源:YIQIFUWU宜器服务网 阅读量 :

客户产品背景



随着5G时代的来临,电子产品的消耗功率是4G的2~5倍,从而引起的发热量相对4G也将以数倍增长,这对于热界面材料和散热材料都是极大考验。石墨烯导热膜其导热率比市场同类型产品提高了3~4倍,且厚度可任意控制,单膜达上百微米,可将5G电子产品芯片产生的热量迅速转移,实现均热;兼具高导热性和超柔性的石墨烯膜材料问世,对柔软电子器件的发展意义重大,从航空航天到智能手机,新型石墨烯膜展现出令人振奋的应用远景。


xxx石墨烯应用技术研究院案例



该司研究的新型石墨烯导热膜基于氧化石墨烯自装技术,具备高导热、高导电、柔性好和厚度可定制等优点,可应用于手机、平板、PC、显屏、电池等领域。其中,石墨烯导热膜电阻率是反映导体导电性能好坏的物理量:电阻率小,导电性能好;电阻率大,导电性能差,通过电阻率从而可了解产品的电学特性情况。


解决方案

吉时利源表(SMU)+上位机软件 + 四探针台

吉时利源表(SMU).jpg


方案特点

通过本套四探针测试方案,不仅读数便捷、精准度高,而且适用性强、灵活性好、误差更小。


系统提供上位机软件,内置电阻率计算公式,符合国标硅单晶电阻率测试标准,测试结束后直接从电脑端读取计算结果,方便后续数据的处理分析。提供正向/反向电流换向测试,可以通过电流换向消除热电势误差影响,提高测量精度值四探针头采用碳化钨材质,间距1毫米,探针位置精确稳定。采用悬臂式结构,探针具有压力行程。针对不同材料的待测件,提供多种不同间距,不同针尖直径的针头选项探针台具备粗/细两级高度调整,细微调整时,高度分辨率高达2微米,精密控制探针头与被测物之间的距离,防止针头对被测物的损害载物盘表面采用绝缘特氟龙图层,降低漏电流造成的测试误差。

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客户使用现场


软件功能

输出电流并测试电压,电阻,电阻率,电导率,薄层电阻等, 记录数据,并根据测试结果绘制曲线软件在 Windows 7/8/10 平台下使用,测试方法符合 GB/T 1551/1552 等国家测试标准提供多种修正参数帮助提高电阻率测试精度配合吉时利 2450/2460/2461 高精度源表使用,确保测试精度和一致性。

系统操作界面.png

系统操作界面



系统指标

电阻率测试范围:0.001Ω⋅cm ~ 1MΩ⋅cm

电阻率的计算表达式:    ρ=RS/L  

ρ为电阻率,L为材料的长度, S为面积,R是电阻值

探针头压力合力:S 型悬臂式弹簧,合力 6~10 N

绝缘电阻:500V 下 > 1GΩ

系统误差:< 2% (<1Ω⋅cm 时,误差小于 0.5%)

探针头间距:1mm, 1.27mm, 1.59mm 可选,使用红宝石套轴,

探针游移率 < 0.2%

针尖压痕直径:25 um~450um 不同规格可选

通信接口:LAN/USB/GPIB

探针台尺寸:240mm x 160mm x 280mm



美国吉时利公司开发的高精度源测量单元(SMU),既可以在输出电流时测试电压,也可以在输出电压时测试电流。输出电流范围从皮安级到安培级可控,测量电压分辨率高达微伏级。支持四线开尔文模式,因此适用于四探针测试,可以简化测试连接,得到准确的测试结果。

其实半导体材料电阻率测试方法有很多种,但四探针法设备简单、操作方便、测量精度高以及对样品形状无严格要求,因此四探针是最常用的方法,尤其对于薄膜样品而言。

如果您也有相关这方面的测试需求,那快来试试这个方案吧。



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