LCR测试仪VS阻抗分析仪

推荐产品

LCR测试仪IM3536

DC，4Hz~8MHz测量频率

● 测量频率DC，4Hz~8MHz
● 测量时间：最快1ms
● 基本精度：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
● 可内部发生DC偏压测量
● 从研发到生产线活跃在各种领域中

阻抗分析仪IM3570

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400

阻抗分析仪IM7587

可信赖的机型3GHz

● 测试电压测量频率：1MHz~3GHz
● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
● 测量值偏差：0.07%（用3GHz测量线圈1nH时）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小
● 丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量