开关电源中常用的功率半导体器件主要包括：DC-DC 的主功率管(MOSFET/IGBT)、输出整流二极管、PFC 的主功率管、PFC 的整流二极管、PFC 的夸接二极管等。这些功率半导体器件的正确使用是电源可靠性的重要保证，为保证功率器件的合理使用，需要考虑合理的电流、电压降额和结温降额。如果元器件的工作状态不超过供应商提供的规格书上的指标。那么可以实现全寿命工作。

电压应力测试，电流应力测试，温度应力测试，开关损耗，高频器件测试。

测试项目：

观测驱动信号Vgs 波形时，由于高端臂共模电压较高，共模干扰会影响Vgs 真实波形的观测。严重的情况下，会导致测试的Vgs 超标，测试无法通过。我们可以通过如下方法检测高臂端共模干扰情况：CMRR 的影响会表现在高臂端，为了抑制高臂端(S 极)的共模干扰，尽量采用更高共模抑制比的差分探头。

在工程师做器件应力测试时，需要随时调整负载的情况下同时不断调高示波器的触发电平，以捕捉不断升高的Vds和Id。利用示波器的历史存储功能，无需随时调整触发电平，示波器可以自动将已触发的波形保留在历史内存中。

分析时，只需打开历史功能菜单，将所有的开关波形叠加显示，就能够清楚观测到最高的尖峰、使用历史统计功能，可以一次性将每一屏的Max、Min等数据自动测量统计并以列表方式显示，方便工程师迅速查询到最大应力水平。在保存波形数据时，选择保存历史存储波形，可以将不用工况下应力测试数据保存在一个文件里面，方便后期分析查找。

开关电源元器件温度应力测试由于需要在电源正常工作状态下测试功率元器件、变压器线圈、电容铝壳、IC的温升，经常会发生测试点漏电，导致高压通过TC线直接串入仪器内部。某些品牌仪器由于耐压不足，出现温度错误、仪器电击损坏等现象。需要测温仪器具有较高的耐压和测量精度，并可以应对温度应力测试中恶劣的电磁环境。

磁芯材料的铁损和铜损是影响电源效率、可靠性的关键因素，尤其是低功率因数下高精度铁损测量是非常重要的测试项目之一。

铁芯发生磁滞特性或过电流导致的能量损失称为铁芯损失或铁损。铜损是指电机的铜材部分，也就是线圈部分产生的焦耳热。如果输入频率、横截面积和其他参数，则可以使用功率分析仪自带的用户自定义运算功能来计算磁通密度B和交流磁场强度H，并将结果显示在屏幕上。