横河电源开发测试解决方案（五）

  环境与耐久测试目的

• 开关循环测试

• 元件温升测试

• 高/ 低温操作测试

• 高/ 低温存储测试

• 低温启动测试

• 温度循环测试/ 冷热冲击测试

开关电源在运行时，内部元件的温度将会升高，如果温度超过规定值，将造成内部元件的寿命缩短或损坏，因此需要对元器件进行温升试验，测试开关电源在规定的操作环境、电压和负载条件下时，元器件的温升状况。

测试条件：将被测电源放置在规定的环境温度中，依线路情况先确定温升比较高的元件，将热电偶粘贴在元件表面。设置好规定的输入电压、频率、输出负载后开机，并记录输入功率和输出电压。同时用记录仪记录元件的温升曲线直至温升稳定。

开关电源使用的半导体功率器件，在上电和断电时都会受到冲击。所以需要对开关电源进行电源开关循环试验，测试电源在满载的情况下是否能连续承受开关操作下的冲击，确保电源的耐久性。

测试条件：将被测电源放置在室温环境中，输入电压115Vac/230Vac，输出负载为满载。将被测电源开关ON，持续时间为5s，然后将开关拨到OFF，持续时间5s，重复此过程。一次开关的过程为一个测试周期，整个试验需持续至少5000个周期。试验过程中每完成1000个周期，记录被测开关电源的输入功率和输出电压。待试验结束后，如果待测产品在试验前后的电气性能没有差异，则通过此试验。

这需要测试设备具有足够长的存储，可以在保持较高采样率的情况下进行长期波形捕捉。