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MTP4101/MTP4104
产地:中国大陆
品牌:
主要技术参数:产品介绍联讯仪器多通道模块误码测试平台MTP4101/MTP4104是集一体化光口误码分析仪(BERT),三温控制单元为一体的误码综合测试系统。无需电...
市场价:¥0
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ATE8108/ATE8104
主要技术参数:产品介绍ATE一体机测试系统,结合光模块的各种测试用例,将各子功能模块按照功能需求比例结合起来,用户可以根据实际的测试需求优化配置,...
AT4X2X
主要技术参数:产品介绍AT4X2X系列多模光衰减器,衰减器衰减精度高、稳定可靠,是光器件、光纤、光缆、光通信仪器的测量以及光纤通信系统工程建设和维护的...
AT430X
主要技术参数:产品介绍联讯仪器AT430X系列单模衰减器是一种用于光收发器和网络集成测试的设备,可在0-40db范围内任意调节衰减,集成输入输出光功率监控,...
OSW42XX&MSW42XX
主要技术参数:产品介绍OSW42XX和MSW42XX光开关具有极低的损耗,紧凑的体积和快速的开关切换速度。设备支持USB和LAN接口,提供指令集及可调用动态链接库,...
PM420X
主要技术参数:产品介绍光功率计,光开光,光衰减器分别用于光功率测量,光路切换,光功率调节等应用场景,是光通讯系统必不可少的基本仪表。联讯仪器PM42...
FWM8612
主要技术参数:产品介绍随着对通信数据需求的不断增长,需要更大容量光通信传输系统,这推动光组件和网络设备制造商传输骨干网中使用基于波长可调谐激光器...
NTA4100
主要技术参数:产品介绍近年来随着光模块PAM4的应用,强制FEC的引入使得光模块厂商除PRBS业务外,还需加入MAC层Traffic的流量测试, 与传统的误码仪不同,...
CR6256-56G
主要技术参数:产品介绍数字DSP CDR的时延相对于模拟CDR高一千倍,其高时延特性难以保证输入信号和输出信号之间的相位匹配,使得驱动光模块误码仪的时钟...
CR4201
主要技术参数:产品介绍联讯仪器CR4201是配合光采样示波器应用的时钟恢复模块,采样示波器测试光眼图时需要时钟做触发才能工作,但有一些场合比如典型的ON...
DCA6201
主要技术参数:产品介绍DCA6201专为大规模制造测试应用而设计,拥有堪比业界标准的 DCA 示波器的测量精度。通过不同的滤波器选件配置,可以支持 25G ...
DCA4201
主要技术参数:产品介绍DCA4201采样示波器基于等时采样及重构眼图技术,从而实现更高精度且更优成本的高速光电数字信号的测量。通过不同的滤波器选件配置...
主要技术参数:联讯仪器DCA4201光采样示波器专门为10G及以下速率光眼图和消光比测试应用设计,通过不同的滤波器选件,可以同时支持10G及以下4个速率光眼图...
8x112G PBT8812
主要技术参数:产品介绍云计算,VR/AR,AI,5G 等技术的应用对流量的需求非常大,而流量的爆炸性增长需要更高的带宽。随着400G 模块的投入使用,800G ...
8x56G PBT8856
主要技术参数:产品介绍随着网络飞快发展,越来越多的应用需要更多的频段支持,400G已成为运营商骨干网升级和扩容的需求方向。PBT8856可支持8路PAM4信号并...
4x25G MBT5210
主要技术参数:产品介绍联讯仪器MBT5210 高性能4×25G误码分析仪,支持单或双通道配置。速率覆盖 10Gbps~28.2Gbps等标准速率。联讯仪器 MBT5210 高信...
4x10G MBT3210
主要技术参数:产品介绍4路并行10G NRZ通道;支持350Mbps ~ 15Gbps速率;快速上升下降沿;低抖动。主要特点速率范围宽支持350Mbps到15Gbps标准测试速率...
25G rBT2250
主要技术参数:产品介绍联讯仪器25G 突发误码分析仪rBT2250 专门针对下一代25G/50G无源光网络(PON)应用的光线路终端(OLT)测试新型突发误码分析仪,...
10G rBT1250
主要技术参数:产品介绍联讯仪器rBT1250专门针对无源光网络(PON)应用的光线路终端(OLT)测试,支持1.25G EPON、GPON、2.5G XGPON、Combo-PON、10G E...
S0342C
主要技术参数:产品介绍4通道高精度PXIe源表模块,支持标准的PXIe机箱,方便集成和扩展多通道源表,组件大规模集成化测试系统。主要特点方便扩展单通道标...
S2012C
主要技术参数:产品介绍联讯仪器S2012C结构紧凑、经济高效的单通道PXIe电源/测量单元,能够同时输出和测量电压和电流,能够提供最大±200V、±1 A(直流...
S2011C
主要技术参数:产品介绍经济高效的单通道 PXIe 电源/测量单元,支持现有大厂的 PXIe 机箱,支持多卡同步,可集成到生产测试系统中使用,以提高系统的...
S3012H
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 S3012H 精密电源/测量单元是紧凑、经济高效的单通道高精度源表,标准半机架宽度,丰富的液晶屏操作界面,成为各种高精...
S3022F
主要技术参数:产品介绍联讯仪器S3022F双通道精密电源/测量单元是结构紧凑、经济高效的双通道台式电源/测量单元(SMU),能够同时输出并测量电压和电流,提...
主要技术参数:联讯仪器 S3012H 精密电源/测量单元是紧凑、经济高效的单通道台式电源/测量单元(SMU),能够同时输出并测量电压和电流。这些功能使得 S...
sCT9001
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 sCT9001 全自动硅光晶圆测试机,具有测试精度高、测试稳定性好以及灵活的可扩展性,适用于实验室验证与量产测试。主要...
TO6201-PD
主要技术参数:产品介绍APD TO 器件测试系统TO6201-PD是专门针对APD TO-CAN封装器件常温和高温性能的测试机。主要特点兼容常规兼容常规TO-CAN器件老化...
BI4201-PD
主要技术参数:产品介绍BI4201-PD APD TO老化系统能够提供高温条件的下APD/PIN带电老化系统。同时兼容APD TO和PIN TO的老化模式,广泛用于APD/PIN TO...
BI4201-LD
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 LD老化系统BI4201-LD TO老化系统能够提供高温条件下LD激光器带电老化系统。提供高达200mA的老化电流范围,且老化电流精...
BI6206
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 高功率激光器老化系统BI6206是专门为测试3D传感器VCSEL激光器、光纤通信应用的泵浦激光器、激光显示应用的高功率EEL激光...
BI6201
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 CoC老化系统BI6201是高密度、多功能、专门针对半导体激光器芯片老化寿命验证的测试系统。主要特点SMU驱动电源支持最高42...
TO6201-LD
主要技术参数:产品介绍联讯仪器LD测试系统TO6201-LD是专门针对TO-CAN封装器件常温和高温性能的测试机。该系统支持常规的8x8 TO-CAN老化子板夹具(适配联...
TO6200
主要技术参数:产品介绍工业级低温测试系统TO62005G承载网光收发模块都需要确保能在-40℃~90℃下正常工作,对这些模块采用的TO-CAN器件提出了新的工业级低...
CT6206
主要技术参数:产品介绍联讯仪器CT6206是一款高功率半导体激光器测试系统,支持电流范围10A连续或脉冲工作模式。CT6206是一个非常灵活的测试平台,支持CoC...
AL6201
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 AL6201是一款专门配合CoC老化系统自动上下料设备。采用模块式设计,使其可以快速安装、拆卸、维护和切换产品。使用AL620...
CT6201-DC
主要技术参数:产品介绍CT6201 是全自动的 CoC 测试系统,便捷高效使其成为 CoC 大规模量产的最佳选择。采用和联讯仪器BI6201相同的测试夹具,降低了...
CT8203
主要技术参数:产品介绍低温芯片测试机CT8203是针对半导体LD激光器在低温、常温下进行的光电特性LIV扫描测试、光谱扫描测试参数测试。系统为双温区结构设...
CT8201
主要技术参数:产品介绍常高温芯片测试机CT8201是针对半导体DFB或EML激光器在常温、高温两个不同温度下进行的光电特性LIV扫描测试、EA扫描测试、光谱扫描...
EDH3101W
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 双85可靠性测试系统 EDH3101W应用于不同材料HBT及pHEMT(增强型/耗尽型)器件高温高湿环境下的长时间可靠性试验。EDH3101...
WLR0100
主要技术参数:产品介绍联讯仪器晶圆级可靠性测试系统 WLR0100可针对半导体器件和半导体晶圆级别分别进行不同封装级别的可靠性测试。针对器件级别可配置...
WLR075S
主要技术参数:产品介绍联讯仪器碳化硅晶圆老化系统WLR075S,最多配置12个老化大单层, 每个老化大单层支持4&6寸晶圆,每个晶圆同时进行最大1024个产品的...
PB6200&PT6200
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 PB6200&PT6200 KGD测试系统主要应用于功率芯片Die级静态与动态测试,以实现对芯片性能指标的筛选,提高封装后模块端的...