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产地：中国大陆

品牌：

主要技术参数：X-MET8000系列手持式X射线荧光（HHXRF）分析仪具备进行快速合金牌号识别并对各种材料（固体和金属粉末、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）进行精确化学分析的性能。

市场价：￥0

产地：中国大陆

品牌：

主要技术参数：产品介绍Vulcan 是一款耐用且分析速度快得惊人的合金分析仪，并提供3年保修*。扣扳机后一秒即会显示结果。且产品使用激光诱导击穿光谱技术...

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产地：中国大陆

品牌：

主要技术参数：X-MET8000系列 手持式XRF光谱仪 X-MET8000系列手持式X射线荧光（HHXRF）分析仪具备进行快速合金牌号识别并对各种材料（固体和金属粉末、...

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产地：中国大陆

品牌：

主要技术参数：Vulcan+ 系列 手持式LIBS光谱仪 Vulcan 是一款耐用且分析速度快得惊人的合金分析仪，并提供3年保修*。扣扳机后一秒即会显示结果。且产...

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品牌：

主要技术参数：EA1400设计用于在制造设施中发挥关键作用，其开发旨在应对最新的工艺和质量控制分析挑战。

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主要技术参数：EA8000A X射线分析仪适用于在锂离子电池生产中进行快速有效的质量控制。

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主要技术参数：EA8000A X射线分析仪适用于在锂离子电池生产中进行快速有效的质量控制。

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主要技术参数：用于邻苯二甲酸酯筛选的 HM1000A 热脱附质谱仪，将帮助您生产出符合 RoHS 2.0 指令的产品。

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主要技术参数：XRF分析（X射线荧光）具有高度灵活和强大的能量分散X射线荧光（EDXRF）光谱仪X-Supreme8000和Lab-X5000，用于各种应用的质量保证和过程控制要求，例如石油、木材处理、矿物、采矿、化妆品、水泥、纸张。

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产地：中国大陆

品牌：

主要技术参数：EA1000AIII/EA1400 台式XRF光谱仪（RoHS）EA1000AIII和EA1400 XRF分析仪专为RoHS（有害物质限制）设计，15年来一直受到信任，为需要遵守...

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品牌：

主要技术参数：EA8000A X射线分析仪 EA8000A X射线分析仪适用于在锂离子电池生产中进行快速有效的质量控制。EA8000A集X射线透射成像和X射线荧光分析于...

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主要技术参数：HM1000A 热脱附质谱仪 用于邻苯二甲酸酯筛选的 HM1000A 热脱附质谱仪，将帮助您生产出符合 RoHS 2.0 指令的产品。HM1000A 采用先进...

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品牌：

主要技术参数：Lab-X/X-Supreme 系列 台式XRF光谱仪 XRF分析（X射线荧光）具有高度灵活和强大的能量分散X射线荧光（EDXRF）光谱仪X-Supreme8000和Lab-X...

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主要技术参数：我们的厚度测量仪器提供可靠、简单的操作以及准确的测量。具有功能强大，用户界面良好，从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。

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主要技术参数：日立用于测量镀层厚度和成分的台式 XRF 分析仪系列旨在应对当今电镀车间和电子元件制造商的挑战。每台仪器都包含强大的技术，可提供准确和精确的结果，坚固耐用，可以应对生产或实验室环境中的持续使用。

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主要技术参数：CMI730 手持式镀层测厚仪 这款易于使用的人体工学设计仪器包含功能强大的微处理器，只需按一下按钮即可进行精确的测量。我们的CMI730专门...

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主要技术参数：CMI255/CMI257 手持式镀层测厚仪 两种探头配置旨在满足您的测量需求CMI255和CMI257涂层厚度仪表提供双重技术，以及对用于钢、铁、铝和其...

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主要技术参数：CMI243 手持式镀层测厚仪 CMI243是任何金属表面处理人员的必备工具。该工具具有灵活且易于使用的设计，其带有采用相敏涡电流技术的ECP-m...

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主要技术参数：CMI155/CMI157 手持式镀层测厚仪 CM1155和CM1157仪表能够准确测量钢、铝和其他金属上涂覆涂层的单层厚度或总厚度。探头的基底设计用于扩...

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主要技术参数：CMI233 手持式镀层测厚仪 借助CMI233这一可靠的方式，用户能够以合理的价格执行准确、高效的涂层/电镀厚度检验。可采用自动或连续模式执...

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主要技术参数：CMI760 手持式镀层测厚仪 CMI760接受多种探针类型，可满足几乎任何PCB应用，包括表面铜和孔铜应用。我们的CMI760标配SRP-4探头，并采用先...

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主要技术参数：CMI563 手持式镀层测厚仪 CMI563提供先进的技术，可对表面铜实施准确的测量，同时确保PCB的背面铜箔不会干扰到读数（不考虑覆铜板的厚度...

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主要技术参数：CMI511 手持式镀层测厚仪 CMl511带来独有的温度补偿功能铜销厚度测量，该功能可减少废料并避免昂贵的返工。该仪表的自动温度校正可实现极...

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主要技术参数：CMI165 手持式镀层测厚仪 温度会影响对铜样品的准确测量。我们的CM165®可对温度实施补偿，在不考虑铜温度的前提下获得准确的检验结果。...

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产地：中国大陆

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主要技术参数：CMI95M® 手持式镀层测厚仪 在1秒内测量铜箔和PCB覆铜板表面铜厚，相应尺寸范围为1/8至4.0盎司/平方英尺(5-140微米)。我们的CMI95M®易于...

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产地：瑞典

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主要技术参数：FT160 台式XRF分析仪 FT160 台式 XRF 分析仪旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助...

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主要技术参数：FT230 台式XRF分析仪 FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的...

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主要技术参数：FT110A 台式XRF分析仪 FT110A 是一款台式 XRF 分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合...

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主要技术参数：X-Strata920 高精度台式XRF分析仪 X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合...

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主要技术参数：FOUNDRY-MASTER Smart是金属生产和加工行业的理想解决方案，可提供经济高效且可靠的分析。 这款新一代的直读光谱仪以非常紧凑的尺寸提供了高分析性能。

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产地：中国大陆

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主要技术参数：OE720和OE750是突破性的OES金属分析仪。其涵盖了金属*元素的全部光谱，并具有同类产品中较低的检出限。

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产地：中国大陆

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主要技术参数：从废旧金属中的杂质元素的分析、来料检测，到铸造过程中的质量控制以及成品检测，连贯的质量控制在整个金属加工行业中都至关重要。

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主要技术参数：OE系列 台式/落地式直读光谱仪 OE系列采用最先进的半导体探测器和新型光学概念（专利申请中）。这使得日立的OES光谱仪在同类产品中具有最...

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主要技术参数：FM EXPERT 台式/落地式直读光谱仪 FM EXPERT属于一款新一代直读光谱仪，集卓越的分析性能和紧凑型设计为一体。其较宽的波长范围使其适...

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主要技术参数：FOUNDRY-MASTER Smart 台式/ 落地式直读光谱仪 严格的质量控制对于金属行业多个生产阶段都是至关重要的。FOUNDRY-MASTER Smart为金属...

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产地：瑞典

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主要技术参数：PMI-Master Pro2/PMI-Master Smart 移动式直读光谱仪 从废旧金属中的杂质元素的分析、来料检测，到铸造过程中的质量控制以及成品检测，...

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主要技术参数：我们的DSC（差示扫描量热仪）被广泛用于材料表征。 例如熔点，玻璃化转变，结晶。 DSC600被广泛用于包括聚合物，制药，化学，石油和天然气，食品和金属等行业的质量控制和研发。

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主要技术参数：这是集成于仪器的可选附件，在进行热测量期间，其可被用于观察样品。图像显示样品形状、样本量、颜色及其他属性的变化。可记录图像，并通过时间戳自动链接到热数据。

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主要技术参数：日立的DMA（动态热机械分析仪）用于应用研究中的机械表征以及塑料、橡胶和薄膜材料中的研发。

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主要技术参数：日立的TMA（热机械分析仪）用于评价样品在宽温度范围内的膨胀或收缩。此类参数对设计工程师而言至关重要，我们的TMA分析仪也用于质量保证或出厂检验，以确保客户产品精确地符合规格。

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主要技术参数：日立的STA（同步热重分析仪）能在一台装置中同时进行DSC和TGA（热重分析仪）的测量。

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主要技术参数：DSC7000X/DSC7020 差示扫描量热仪 我们的DSC（差示扫描量热仪）广泛用于材料表征，如熔点、玻璃化转变、结晶。DSC7000用于众多行业的质量...

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主要技术参数：DSC600/DSC200 差示扫描量热仪 我们的DSC（差示扫描量热仪）被广泛用于材料表征。 例如熔点，玻璃化转变，结晶。 DSC600被广泛用于包括...

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主要技术参数：RV系列 RealView 试样实时观察系统 这是集成于仪器的可选附件，在进行热测量期间，其可被用于观察样品。图像显示样品形状、样本量、颜色...

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主要技术参数：DMA7100 动态热机械分析仪 日立的DMA（动态热机械分析仪）用于应用研究中的机械表征以及塑料、橡胶和薄膜材料中的研发。为解决此问题，日...

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主要技术参数：TMA7100/TMA7300 热机械分析仪 日立的TMA（热机械分析仪）用于评价样品在宽温度范围内的膨胀或收缩。此类参数对设计工程师而言至关重要，...

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主要技术参数：NEXTA STA 系列 同步热重分析仪 日立的STA（同步热重分析仪）能在一台装置中同时进行DSC和TGA（热重分析仪）的测量。STA用于通过TGA数...

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主要技术参数：运用ADR和高精度ADC来为提高良率做贡献的Inline缺陷观测SEM。

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主要技术参数：搭载日立先进技术的CD-SEM CS4800兼容4、6、8英寸晶圆的CD测量，提供高解析度的SEM成像，更高的测量精度和快速自动化操作，将有助于提高客户现有生产线的生产力。

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主要技术参数：高解析度FEB测量装置（CD-SEM）CG6300通过电子光学系统的全新设计提高了解析度，并进一步提高了测量可重复性和图像画质。

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主要技术参数：20纳米世代后的装置对精度和工艺要求非常高，如双重图案和3D构造，以及针对新材料相对应的高精密度复杂制程要求，包含后道处理和形成保护膜等。

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产地：中国大陆

品牌：

主要技术参数：纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800应用光干涉现象，对微细的表面形貌进行测量，可实现高性能薄膜、半导体、汽车零配件、显示器等行业所要求的高精度测量。

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主要技术参数：采用磁控型电极，最大限度地减轻对样品的损坏。

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主要技术参数：日立离子研磨仪标准机型IM4000Ⅱ能够进行截面研磨和平面研磨。还可通过低温控制及真空转移等各种选配功能，针对不同样品进行截面研磨。

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主要技术参数：ArBlade 5000是日立离子研磨仪的高性能机型。 它实现了超高速截面研磨。

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主要技术参数：AFM5300E是一款环境型原子力显微镜，它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。

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主要技术参数：AFM5100N除了激光检测方式之外，全新的「自检测悬臂」，在保证高分辨表面形貌观察的同时，大大简化了AFM悬臂操作。

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主要技术参数：AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。

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主要技术参数：AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面，标准配备参数自动设置功能(RealTune® II)，即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时，也能快速获得准确的测量数据。

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主要技术参数：在高科技设备及高性能纳米材料的评价和分析领域，FIB-SEM已成为不可或缺的工具。

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主要技术参数：通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察，采集一系列连续截面图像，并重构特定微区的三维结构。

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主要技术参数：“Ethos”采用日立高新的核心技术--高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜，不但可以在低加速电压下实现高分辨观察，还可以在FIB加工时实现实时观察。

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主要技术参数：以创新的操作性，满足广泛领域的需求。

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主要技术参数：专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。

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主要技术参数：200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能 通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。

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主要技术参数：通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布 移动到指定位置，可实时确认其谱图

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主要技术参数：图标按操作流程顺序排列，操作简便 通过对应谱图可简单确认元素重叠状况

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主要技术参数：我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念，开发出TM4000系列。在此基础上，我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。 为您提供全新的观察和分析应用。

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产地：中国大陆

品牌：

主要技术参数：“先进的SEM更为紧凑” 宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计，仍具备4.0 nm的图像分辨率。 全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。

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主要技术参数：日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性，结合众多的自动化功能，可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察。

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主要技术参数：创新的“EM Wizard”界面更加直观，仅需要“点击”即可得到理想的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平。

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主要技术参数：SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像，而且还可以同时接收多种信号。此外，它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多优异性能。

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主要技术参数：现有机型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regulus8100。

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主要技术参数：专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。

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主要技术参数：随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且重视其采集过程的时代。

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主要技术参数：随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且注重其采集过程的时代。

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主要技术参数：HG-400系列汞测定仪采用冷蒸汽原子吸收光谱法执行分析检测，满足美国环保署号EPA245.1-7方法要求，是环境要求严格分析检测的绝佳解决方案。

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主要技术参数：AQUACOUNTER® 推出的新款卡尔费休水分滴定仪，既经济又环保。

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主要技术参数：AQ-300安装有具有最新性能特点的选购件，如无隔膜滴定池等。其检测性能与其它类型的AQUACOUNTER产品一样快速而精确。

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主要技术参数：COM-300A滴定仪可以进行升级以满足您不断增长的需求。我们当然也是您的实验室需要的其它类滴定产品主要制造商，其它产品如卡尔费休水分测定仪等。

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主要技术参数：COM-1700和COM-1750系列自动滴定仪专为满足您现在和将来的需要而设计！

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主要技术参数：AQUACOUNTER®推出的新款自动水分分析仪，既经济又环保。

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主要技术参数：使用新性能的AQV-300自动水分分析仪，您可以快速而精确地测定各种不同高低浓度的水分。

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主要技术参数：8.4 英寸彩色液晶触摸屏 16 级液晶显示角度调节

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主要技术参数：ZA3000系列原子吸收分光光度计，秉承偏振塞曼法和双检测器实时校正, 新增日立多项技术，数据结果优异、稳定可靠。

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主要技术参数：日立荧光分光光度计F-7100是在前代机型F-7000的基础上更新升级，基本性能得到了进一步提升。

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主要技术参数：F-7000 荧光分光光度计具有如高灵敏度（RMS信噪比为800）以及同类产品超快的高扫描速度（60,000 nm/min）等许多新功能。

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主要技术参数：U-3900/3900H分光光度计可满足各种分析需求，分析对象从固定材料到液体材料。该型仪器共有两种类型，可以根据分析检测目的和用途的需要选择。

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主要技术参数：日立的U-5100紫外/可见光用分光光度计产品设计理念是，低碳和环保。

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主要技术参数：UH5300可采用平板终端操作，操作便捷，用户界面直观，不用说明书手册也可操作。标配自动6池塔轮附件，大大提高工作效率，是日立推出的高性能分光光度计之一。

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主要技术参数：安装了大尺寸彩色液晶显示屏，分光光度计操作更简单，性能更可靠。 高分辨率满足欧洲药典标准（光谱带宽：1.5 nm）

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主要技术参数：日立荧光分光光度计F-4700是在前代机型F-4600的基础上更新升级，综合性能得到了进一步提升。

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主要技术参数：紫外/可见/近红外分光光度计UH5700支持从紫外区到近红外区的广范围波长区域的固体，液体样品测定。它采用全新的数据处理软件，操作起来更加简便。

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主要技术参数：近年来，近红外区的光学元件广泛应用于智能手机和自动驾驶等行业领域，针对这类元件的测定，我们推出一款高灵敏度且宽动态范围的仪器。

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主要技术参数：固体分析分光光度计专家U-4100，实现了进一步的技术提高, UH4150问世！ 现在，UH4150型分光光度计已经面世，秉承了U-4100的高度可靠性。U-4100已累计发售1,500*1多台。

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主要技术参数：F-2700 荧光分光光度计操作面板可标准化安装，可独立运行。省去个人电脑所用空间。

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主要技术参数：LA8080秉承并发展了日立多年来的氨基酸分析仪研发经验，仪器可靠性和稳定性高，性能优异。

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主要技术参数：适用范围广：几乎所有不挥发和半挥发物质都能检测 高灵敏度：达到ng级（较ELSD高1-2个数量级）

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主要技术参数：高效液相色谱仪（HPLC）广泛应用于医药、食品、化学、环境等与人们日常生活密切相关的领域，并从众多分析仪器中脱颖而出,备受关注。

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主要技术参数：该装置与大型质谱分析仪（Mass Spectrometer）不同，为HPLC用户提供了具有全新概念的质谱检测器（MS Dector）。

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主要技术参数：以下的两个性能保证了数据的可靠性：泵和自动进样器的高度重现性及柱温箱和检测器的优异稳定性。

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主要技术参数：140 MPa系统耐压（日立高新技术调查 日本国内销售机型 2013年7月）帮您实现高分辨分析

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