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F30/F30-EXR/F30-NIR/F30-UV/F30-UVX/F30-XT
产地:美国
品牌:
主要技术参数:F30 系列在线检测仪监控薄膜沉积,最强有力的工具F30 光谱反射率系统能实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数 (n 和 k 值) 和半导体...
市场价:¥0
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F60-c/F60-c-UV/F60-c-NIR/F60-c-EXR/F60-c-UVX/F60-c-XT/F60-c-s1310
主要技术参数:F60-c 系列自动晶圆传输薄膜厚度测绘系统适合生产环境的自动晶圆传输薄膜厚度测绘系统Filmetrics® F60-c系列能够像我们的F50产品一样对...
F54-XY/F54-XY-UV/F54-XY-NIR/F54-XY-EXR/F54-XY-UVX
主要技术参数:F54-XY系列自动薄膜厚度测量仪图案化晶圆的自动膜厚测量F54-XY拥有先进的反射光谱仪系统,可轻松实现对最大300mm晶圆样品的膜厚测量。F54-X...
F54/F54-UV/F54-NIR/F54-EXR/F54-UVX
主要技术参数:F54 系列自动化薄膜测绘自动化薄膜测绘Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的...
F50/F50-UV/F50-NIR/F50-EXR/F50-UVX/F50-XT/F50-s980/F50-s1310/F50-s1550
主要技术参数:F50 系列自动化薄膜测绘自动化薄膜测绘Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台...
F40/F40-EXR/F40-NIR/F40-UV/F40-UVX
主要技术参数:F40 系列显微镜连接测量仪将您的显微镜变成薄膜测量工具F40 产品系列用于测量小到 1 微米的光斑。 对大多数显微镜而言,F40 能简单地...
F10-AR
主要技术参数:F10-AR减反薄膜和涂层测量系统易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的第...
F3-CS
主要技术参数:F3-CS微小视野及微小样品测量系统Filmetrics的F3-CS 专门为了微小视野及微小样品测量设计, 任何人从一线操作到研&发人员都可以此簡易USB...
F10-HC
主要技术参数:F10-HC硬涂层厚度测量仪轻而易举而且经济有效地分析单层和多层硬涂层F10-HC 以 Filmetrics F20 平台为基础,根据光谱反射数据分析快速...
F10-RT
主要技术参数:F10-RT反射透射同步测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部...
F10-ARc
主要技术参数:F10-ARc反抗射膜涂层及硬涂层厚度测量仪走在前端 以较低的价格现在可以很容易地测量曲面样品,包括眼镜和其他光学镜片的防反射涂层, 仅需...
F3-s980/F3-s1310/F3-s1550
主要技术参数:F3-sX 系列厚度测量仪F3-sX 系列能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米,而这种较厚的薄膜与较薄的薄膜相比往往粗糙且均匀度较为不佳波长选...
F20/F20-EXR/F20-NIR/F20-UV/F20-UVX/F20-XT
主要技术参数:F20 系列台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™...
Profilm3D
主要技术参数:Profilm3D光学轮廓仪Profilm3D使得光学轮廓测量更易负担最后,表面粗糙度和表面形貌测量可以用比探针式轮廓仪成本更低的仪器来进行。 Prof...
R50-4PP/R50-EC/R50-200-4PP/R50-200-EC/R54-200-4PP/R54-200-EC/R54-300-4PP/R54-300-EC
主要技术参数:R50/R54 系列方块电阻测试仪Filmetrics R系列结合了KLA公司45年来在方块电阻测量领域以及Filmetrics团队20年来在桌面式仪器和用户界面方...