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YT8500
产地:中国大陆
品牌:三恩时3nh
主要技术参数:YT8500 专业版分体两用涂层测厚仪 专业版分体两用涂层测厚仪YT8500是3nh公司制造的完全拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪,能快速、精准...
市场价:¥0
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YT8300
主要技术参数:YT8300 标准版分体两用涂层测厚仪 标准版分体两用涂层测厚仪YT8300是3nh公司制造的完全拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪,能快速、精准...
YT8280
主要技术参数:YT8280 经济型分体铝基涂层测厚仪 经济型分体铝基涂层测厚仪YT8280是3nh公司制造的完全拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪,能依据涡流法...
YT8200
主要技术参数:YT8200 经济型分体铁基涂层测厚仪 经济型分体铁基涂层测厚仪YT8200是3nh公司制造的完全拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪,能依据磁性法...
YT6500
主要技术参数:YT6500 专业版一体两用涂层测厚仪 专业版一体两用涂层测厚仪YT6500是3nh公司制造的完全拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪,能快速、精准...
YT6300
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YT5280
主要技术参数:YT5280 经济型一体铝基涂层测厚仪 经济型一体铝基涂层测厚仪YT5280是3nh公司制造的完全拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪,能依据涡流法...
YT5200
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YT5110
主要技术参数:YT5110 入门级一体铁基涂层测厚仪 经济型一体铁基涂层测厚仪YT5110是3nh公司制造的完全拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪,能依据磁性法...
YT5100
主要技术参数:YT5100 入门级一体铁基涂层测厚仪 一体铁基涂层测厚仪YT5100是3nh公司制造的完全拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪,能依据磁性法快速、...
F30/F30-EXR/F30-NIR/F30-UV/F30-UVX/F30-XT
产地:美国
品牌:美国Filmetrics
主要技术参数:F30 系列在线检测仪监控薄膜沉积,最强有力的工具F30 光谱反射率系统能实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数 (n 和 k 值) 和半导体...
F60-c/F60-c-UV/F60-c-NIR/F60-c-EXR/F60-c-UVX/F60-c-XT/F60-c-s1310
主要技术参数:F60-c 系列自动晶圆传输薄膜厚度测绘系统适合生产环境的自动晶圆传输薄膜厚度测绘系统Filmetrics® F60-c系列能够像我们的F50产品一样对...
F60-t/F60-t-UV/F60-t-NIR/F60-t-EXR/F60-t-UVX/F60-t-XT/F60-t-s980/F60-t-s1310/F60-t-s1550
品牌:
主要技术参数:F60 系列生产环境的自动测绘生产环境的自动测绘Filmetrics F60-t 系列就像我们的 F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率,但它增加了许多用...
F54-XY/F54-XY-UV/F54-XY-NIR/F54-XY-EXR/F54-XY-UVX
主要技术参数:F54-XY系列自动薄膜厚度测量仪图案化晶圆的自动膜厚测量F54-XY拥有先进的反射光谱仪系统,可轻松实现对最大300mm晶圆样品的膜厚测量。F54-X...
F54/F54-UV/F54-NIR/F54-EXR/F54-UVX
主要技术参数:F54 系列自动化薄膜测绘自动化薄膜测绘Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的...
F50/F50-UV/F50-NIR/F50-EXR/F50-UVX/F50-XT/F50-s980/F50-s1310/F50-s1550
主要技术参数:F50 系列自动化薄膜测绘自动化薄膜测绘Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台...
F40/F40-EXR/F40-NIR/F40-UV/F40-UVX
主要技术参数:F40 系列显微镜连接测量仪将您的显微镜变成薄膜测量工具F40 产品系列用于测量小到 1 微米的光斑。 对大多数显微镜而言,F40 能简单地...
F10-AR
主要技术参数:F10-AR减反薄膜和涂层测量系统易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的第...
F3-CS
主要技术参数:F3-CS微小视野及微小样品测量系统Filmetrics的F3-CS 专门为了微小视野及微小样品测量设计, 任何人从一线操作到研&发人员都可以此簡易USB...
F10-HC
主要技术参数:F10-HC硬涂层厚度测量仪轻而易举而且经济有效地分析单层和多层硬涂层F10-HC 以 Filmetrics F20 平台为基础,根据光谱反射数据分析快速...