电话:400-861-5117
NX2000
产地:中国大陆
品牌:日立
主要技术参数:在高科技设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。
市场价:¥0
画册
说明书
详情
NX9000
主要技术参数:通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。
HT7800系列
主要技术参数:以创新的操作性,满足广泛领域的需求。
HD-2700
主要技术参数:专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。
HF5000
主要技术参数:200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能 通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。
Quantax75
主要技术参数:通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布 移动到指定位置,可实时确认其谱图
AZtec系列
主要技术参数:图标按操作流程顺序排列,操作简便 通过对应谱图可简单确认元素重叠状况
TM4000II/TM4000PlusII
主要技术参数:我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念,开发出TM4000系列。在此基础上,我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。 为您提供全新的观察和分析应用。
FlexSEM 1000 II
主要技术参数:“先进的SEM更为紧凑” 宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计,仍具备4.0 nm的图像分辨率。 全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。
SU3800/SU3900
主要技术参数:日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性,结合众多的自动化功能,可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓,可应对大型样品的观察。
SU5000
主要技术参数:创新的“EM Wizard”界面更加直观,仅需要“点击”即可得到理想的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平。
SU7000
主要技术参数:SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像,而且还可以同时接收多种信号。此外,它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多优异性能。
Regulus系列
主要技术参数:现有机型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合,衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regulus8100。
SU9000
主要技术参数:专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件,高分辨成像所设计。
SU8600系列
主要技术参数:随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且重视其采集过程的时代。
SU8700
主要技术参数:随着快速数据采集和数据处理技术的发展,电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量,而且注重其采集过程的时代。
品牌:舜宇
主要技术参数:
IE200M
主要技术参数:产品概述操作简便,附件齐全,广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域。功能特点高精度粗微动调...
SZ4
主要技术参数:产品概述采用格里诺夫光学成像系统,紧凑的风格设计,多样化的配件组合,可安装于工业绑定设备。满足常规生物观察、工业检测的需求。功能特...
S20
主要技术参数:产品概述S20配45°倾斜双目观察头插入式物镜屈光度可调,调节范围±5mm瞳距可调,调节范围55-57mm型号中“L”表示上光源,“2L”表示上、下...