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Nano Quantity Analyte Detecto
产地:中国大陆
品牌:日立
主要技术参数:适用范围广:几乎所有不挥发和半挥发物质都能检测 高灵敏度:达到ng级(较ELSD高1-2个数量级)
市场价:¥0
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Primaide
主要技术参数:高效液相色谱仪(HPLC)广泛应用于医药、食品、化学、环境等与人们日常生活密切相关的领域,并从众多分析仪器中脱颖而出,备受关注。
5610
主要技术参数:该装置与大型质谱分析仪(Mass Spectrometer)不同,为HPLC用户提供了具有全新概念的质谱检测器(MS Dector)。
Chromaster
主要技术参数:以下的两个性能保证了数据的可靠性:泵和自动进样器的高度重现性及柱温箱和检测器的优异稳定性。
ChromasterUltra Rs
主要技术参数:140 MPa系统耐压(日立高新技术调查 日本国内销售机型 2013年7月)帮您实现高分辨分析
VS1800
主要技术参数:纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800应用光干涉现象,对微细的表面形貌进行测量,可实现高性能薄膜、半导体、汽车零配件、显示器等行业所要求的高精度测量。
AFM5300E
主要技术参数:AFM5300E是一款环境型原子力显微镜,它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。
AFM5100N
主要技术参数:AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。
AFM5500M
主要技术参数:AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高,配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换,激光对中,测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。
AFM5000II/RealTune® II
主要技术参数:AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面,标准配备参数自动设置功能(RealTune® II),即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时,也能快速获得准确的测量数据。
NX2000
主要技术参数:在高科技设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。
NX9000
主要技术参数:通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。
Ethos NX5000
主要技术参数:“Ethos”采用日立高新的核心技术--高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜,不但可以在低加速电压下实现高分辨观察,还可以在FIB加工时实现实时观察。
HT7800系列
主要技术参数:以创新的操作性,满足广泛领域的需求。
HD-2700
主要技术参数:专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。
HF5000
主要技术参数:200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能 通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。
Quantax75
主要技术参数:通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布 移动到指定位置,可实时确认其谱图
AZtec系列
主要技术参数:图标按操作流程顺序排列,操作简便 通过对应谱图可简单确认元素重叠状况
TM4000II/TM4000PlusII
主要技术参数:我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念,开发出TM4000系列。在此基础上,我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。 为您提供全新的观察和分析应用。
FlexSEM 1000 II
主要技术参数:“先进的SEM更为紧凑” 宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计,仍具备4.0 nm的图像分辨率。 全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。