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BI4201-LD
产地:中国大陆
品牌:苏州联讯
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 LD老化系统BI4201-LD TO老化系统能够提供高温条件下LD激光器带电老化系统。提供高达200mA的老化电流范围,且老化电流精...
市场价:¥0
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BI6206
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 高功率激光器老化系统BI6206是专门为测试3D传感器VCSEL激光器、光纤通信应用的泵浦激光器、激光显示应用的高功率EEL激光...
BI6201
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 CoC老化系统BI6201是高密度、多功能、专门针对半导体激光器芯片老化寿命验证的测试系统。主要特点SMU驱动电源支持最高42...
TO6201-LD
主要技术参数:产品介绍联讯仪器LD测试系统TO6201-LD是专门针对TO-CAN封装器件常温和高温性能的测试机。该系统支持常规的8x8 TO-CAN老化子板夹具(适配联...
TO6200
主要技术参数:产品介绍工业级低温测试系统TO62005G承载网光收发模块都需要确保能在-40℃~90℃下正常工作,对这些模块采用的TO-CAN器件提出了新的工业级低...
CT6206
主要技术参数:产品介绍联讯仪器CT6206是一款高功率半导体激光器测试系统,支持电流范围10A连续或脉冲工作模式。CT6206是一个非常灵活的测试平台,支持CoC...
AL6201
主要技术参数:产品介绍联讯仪器 AL6201是一款专门配合CoC老化系统自动上下料设备。采用模块式设计,使其可以快速安装、拆卸、维护和切换产品。使用AL620...
CT6201-DC
主要技术参数:产品介绍CT6201 是全自动的 CoC 测试系统,便捷高效使其成为 CoC 大规模量产的最佳选择。采用和联讯仪器BI6201相同的测试夹具,降低了...
CT8203
主要技术参数:产品介绍低温芯片测试机CT8203是针对半导体LD激光器在低温、常温下进行的光电特性LIV扫描测试、光谱扫描测试参数测试。系统为双温区结构设...
CT8201
主要技术参数:产品介绍常高温芯片测试机CT8201是针对半导体DFB或EML激光器在常温、高温两个不同温度下进行的光电特性LIV扫描测试、EA扫描测试、光谱扫描...
MTP4101/MTP4104
主要技术参数:产品介绍联讯仪器多通道模块误码测试平台MTP4101/MTP4104是集一体化光口误码分析仪(BERT),三温控制单元为一体的误码综合测试系统。无需电...
ATE8108/ATE8104
主要技术参数:产品介绍ATE一体机测试系统,结合光模块的各种测试用例,将各子功能模块按照功能需求比例结合起来,用户可以根据实际的测试需求优化配置,...
AT4X2X
主要技术参数:产品介绍AT4X2X系列多模光衰减器,衰减器衰减精度高、稳定可靠,是光器件、光纤、光缆、光通信仪器的测量以及光纤通信系统工程建设和维护的...
AT430X
主要技术参数:产品介绍联讯仪器AT430X系列单模衰减器是一种用于光收发器和网络集成测试的设备,可在0-40db范围内任意调节衰减,集成输入输出光功率监控,...
OSW42XX&MSW42XX
主要技术参数:产品介绍OSW42XX和MSW42XX光开关具有极低的损耗,紧凑的体积和快速的开关切换速度。设备支持USB和LAN接口,提供指令集及可调用动态链接库,...
PM420X
主要技术参数:产品介绍光功率计,光开光,光衰减器分别用于光功率测量,光路切换,光功率调节等应用场景,是光通讯系统必不可少的基本仪表。联讯仪器PM42...
FWM8612
主要技术参数:产品介绍随着对通信数据需求的不断增长,需要更大容量光通信传输系统,这推动光组件和网络设备制造商传输骨干网中使用基于波长可调谐激光器...
NTA4100
主要技术参数:产品介绍近年来随着光模块PAM4的应用,强制FEC的引入使得光模块厂商除PRBS业务外,还需加入MAC层Traffic的流量测试, 与传统的误码仪不同,...
CR6256-56G
主要技术参数:产品介绍数字DSP CDR的时延相对于模拟CDR高一千倍,其高时延特性难以保证输入信号和输出信号之间的相位匹配,使得驱动光模块误码仪的时钟...
CR4201
主要技术参数:产品介绍联讯仪器CR4201是配合光采样示波器应用的时钟恢复模块,采样示波器测试光眼图时需要时钟做触发才能工作,但有一些场合比如典型的ON...