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品牌:上海天辰
型号:XD-41-721
型号:XD-41-723/XD-41-752N
型号:XD-41-UV1800
OES8000S
产地:中国大陆
品牌:天瑞
主要技术参数:火花全谱直读光谱仪OES8000s采用CMOS检测器全谱测试技术,可测试覆盖波长范围内的所有谱线,配置和补充测试基体、通道、分析程序极为方便。
市场价:¥0
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OES 1000
主要技术参数:OES1000(贵金属专用) 火花光电直读光谱仪特别适用于测定黄金产品中微量元素的含量,天瑞仪器火花光电直读光谱仪的快速测试使研发、生产过程和质量更可控
ICP 3200
主要技术参数:ICP3200全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪是天瑞仪器继ICP3000成功推出后,推出的又一款全新概念、极具创新的双向观测ICP-OES,融合最新智能光路切换技术、谱线深度处理技术,可实现基于双向观测的定量与定性分析处理
ICP 2060T
主要技术参数:ICP2060T电感耦合等离子体发射光谱仪特别适合用于测定各种石化产品中常量、微量、痕量元素的含量。
WDX200
主要技术参数:WDX-200小型多道X射线荧光光谱仪可配置10个固定分光道,可同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U的任意十种元素。
WDX400
主要技术参数:WDX-400型多道X射线荧光光谱仪可配置10个固定分光道,同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U 任意十种元素。标准配置为Na、Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Fe、P或Ti(可选)十种元素,是大中型企业质量控制的理想选择。
WDX 4000
主要技术参数:WDX-4000 是江苏天瑞仪器股份有限公司,在国家重大科学仪器设备开发专项(项目编号:2011YQ170065)资金支持下,融合科技创新和发明,推出的国内首台商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪。
EDX 2000A
主要技术参数:EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。
EDX 600 PLUS
主要技术参数:EDX600PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验,专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。
EDX 3000B
主要技术参数:本产品符合国标GB/T18043-2013对仪器分辨率的要求,EDX3000B采用Si-Pin半导体探测器,远胜于正比计数探测器;准确无误地分析黄金,铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量。
EDX 600
主要技术参数:EDX 600是集天瑞仪器多年贵⾦属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能⻬全的测试软件、友好的操作界⾯来满⾜贵⾦属成分检测的需要,⼈性化的设计,使测试⼯作更加轻松完成。
Cube 100S(真空版)
主要技术参数:Cube100S真空便携式X荧光光谱仪系列可广泛应用于:水泥、钢铁冶炼、矿产开发冶炼、耐火材料、粉末冶金、石油勘探、录井分析、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业、科研院所、高校、工矿企业等领域。
Cube100S
主要技术参数:Cube 100S采用能量色散型X射线荧光分析技术,是专为海事等相关部门对各种燃料油中含硫量进行现场快速分析测量而设计的便携、易于使用的分析仪器。
EDX6000B
主要技术参数:EDX6000B 是天瑞仪器新研发的一款仪器,专门针对于水泥行业,矿产行业等研发出来的,内置自动移动转盘,可同时测试多个样品,操作简单方便。
EDX 3000
主要技术参数:本产品符合国标GB/T 18043-2013对仪器分辨率的要求,EDX 3000采⽤Si-pin探测器, 准确⽆误地分析⻩⾦, 铂⾦和K⾦饰品中⾦、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量。
EDX1800BS
主要技术参数:针对EDX 1800在各个领域的广泛应用,根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,特别设计该款EDX 1800BS。
EDX 3200S PLUS
主要技术参数:EDX 3200S PLUS X荧光测硫仪是一款更高效智能的测硫仪器。
EDX4500A
主要技术参数:该仪器的主要特征是利⽤智能真空系统,可对Na、Mg、AI、Si、P、S、CI等轻元素具有良好的激发效果,利⽤XRF技术可对⾼含量的K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Mo、Zr、Ba等重点关注的元素进⾏精确分析,真正为矿产、⾦属加⼯及⽆机⾮⾦属材料⽣产企业的产品质量控制提供服务,⼤⼤提⾼检测效率和节省检测成本。
EDX3800
主要技术参数:天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上,十年磨一剑,开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。
EDX4500
主要技术参数:超薄窗X光管,指标达到国际先进水平