Ceyear 3674系列矢量网络分析仪是技术创新的巅峰之作,可以轻松应对半导体芯片测试、材料测试、天线测试、高速线缆测试、微波部组件测试等带来的严峻挑战。出色的射频特性、灵活的硬件配置和丰富的软件功能相辅相成,只需一次连接即可完成多种测量任务。创新的人机交互设计可帮助您快速便捷地完成所需的测量设置,超大触摸屏为您带来灵活、高效的操作体验。
此资料适用于以下型号
3674B | 3674C | 3674D | 3674E |
3674F | 3674G | 3674H | 3674K |
3674L |
Ceyear 3674系列矢量网络分析仪是技术创新的巅峰之作,可以轻松应对半导体芯片测试、材料测试、天线测试、高速线缆测试、微波部组件测试等带来的严峻挑战。出色的射频特性、灵活的硬件配置和丰富的软件功能相辅相成,只需一次连接即可完成多种测量任务。创新的人机交互设计可帮助您快速便捷地完成所需的测量设置,超大触摸屏为您带来灵活、高效的操作体验。
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3674B | 3674C | 3674D | 3674E |
3674F | 3674G | 3674H | 3674K |
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