对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
C、(tan δ), Q测试，低电阻测量 测试源频率：1kHz，1MHz 测量时间：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB
模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
根据BIN的测定区分容量
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