1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
测量|Z|、L、C、R 测量频率4Hz~5MHz 测量时间：0.5ms 同时进行扫频测量和LCR测量
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
可以用于无线充电评价系统TS2400
搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量