Chroma 1871是专门为芯片型电感所设计的自动化测试生产设备,特别针对层间短路测试而设计,满足客户端大量生产需求。
1871的测试功能为层间短路测试(IWT),是把关芯片电感质量的测试系统。此系统也承袭Chroma 19301A 绕线组件脉冲测试器所有的判断功能,包含波形面积比(Area)、放电二次微分侦测(Laplacian)及新的测试判断功能波峰降比(Δ Peak Ratio)、共振波面积比(Δ Resonant Area)。
Chroma 1871是专门为芯片型电感所设计的自动化测试生产设备,特别针对层间短路测试而设计,满足客户端大量生产需求。
1871的测试功能为层间短路测试(IWT),是把关芯片电感质量的测试系统。此系统也承袭Chroma 19301A 绕线组件脉冲测试器所有的判断功能,包含波形面积比(Area)、放电二次微分侦测(Laplacian)及新的测试判断功能波峰降比(Δ Peak Ratio)、共振波面积比(Δ Resonant Area)。