FLIR CM174能够识别普通钳形表无法发现的问题。FLIR CM174采用IGM红外成像引导测量技术，集成FLIR Lepton®热成像传感器，提供一种在安全距离内识别热点和过载电路的可靠方式。红外成像引导测量技术明确引导您发现潜在电气问题的精确位置，通过丰富功能和温度读数助您确认发现结果。
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