KC-2型可控硅测试仪（又名：全系列塑封可控硅、可控硅光耦测试仪），是2005年zui新研究设计成功的
一种新颖的数字显示式多功能半自动可控硅和可控硅光电耦合器参数测试装置。
１、它可以测量小至TO-92封装大至TO-3P封装的各种电流等级的塑封单、双向可控硅（晶闸管）。
２、专门设计了0-1O00uA的触发电流量程，可以直接测量MCR100-6等微安级触发电流的可控硅。
３、可以测量DIP-6、DIP-4封装的过零和非过零检测可控硅输出的光电耦合器和DIP-6封装的单向可控硅输出的光电耦合器。
４、可以测量200A以下的螺铨型单、双向可控硅和可控硅组合模块。
５、测试触发电流和触发电压时无需人工调节，可控硅插入测试座后仪器会自动的调节至触发值，并稳定的显示触发电流 IGT / 触发电压 VGT。
６、测试可控硅耐压参数时只需一次性调节好zui高输出电压值，以后每测一个管子只要按下高压按钮即可显示该可控硅的耐压值。
该仪器主要用于可控硅使用厂家对可控硅元件的质量检验、参数的配对、可控硅设备的维修之用。仪器还可以广泛的应用于对多种电子元器件的高低压耐压的测试。仪器外型美观、性能稳定、测量准确、使用安全方便。