适用范围
GB/T 5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1 MHz ，温度从室温至500 ℃条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。
基本信息
标准号：GB/T 5594.4-2015
标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic component and device—Part 4:Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value
标准状态：现行
发布日期：2015-05-15
实施日期：2016-01-01
出版语种：中文简体
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