冷热冲击试验与快速温变试验的区别

1、试验目的不同

2、测试阶段的不同

冷热冲击主要在研发设计阶段，试制阶段；

而快速温变主要在量产阶段。

3、测试对象的不同

冷热冲击试验箱主要用于测试材料结构或复合材料，现在使用最多的还是电子产品的元器件或者组件级（如PCBA，IC）。

而快速温变则主要适用于电子产品的元器件级，组件级和设备级。

4、试验结构的不同

5、温度变化速率要求不同

6、样品失效模式的不同

冷热冲击是由于材料蠕变及疲劳损伤引起的失效，也称脆性失效；

而快速温变，由于材料疲劳引起的失效。

7、常见故障现象不同

冷热冲击的故障主要体现在，如零部件的变形或破裂，绝缘保护层失效，运动部件的卡紧或松弛电气和电子元器件的变化，快速冷凝水或结霜引起电子或机械故障。

而快速温变的主要故障表现在如涂层、材料或线头上各种微裂纹扩大；使粘结不好的接头松弛；使螺钉连接或铆接不当的接头松弛；材料热膨胀系数不同产生的变形和应力引起的故障,使固封材料绝缘下降；使机械张力不足的压配接头松弛；使质差的钎焊接触电阻加大或造成开路；使运动件及密封件故障。

8、两者常见标准参考

冷热冲击常见参考标准：

GB/T 2423.22-2012

IEC60068-2-14:2009

GJB150.5A-2009

GB/T 28046.4-2011

快速温变参考标准：

GB/T2423.22

IEC60068_2_14

GJB 150.5

有些客户在日常使用中会认为冷热冲击试验箱（三箱式冷热冲击箱）与快速温变箱可考虑共用，如：温度冲击范围是-40℃~85℃，温度恢复时5min以内，高低温驻留时间30min。如果快速温变箱的温变速率能达到25℃/min以上，可以考虑代替冷热冲击箱，因为三箱式冷热冲击工作原理与常见快速温变箱接近。但对于提篮式冷热冲击箱，严格上来讲，不建议用快速温变箱代替，因为提篮式冷热冲击箱的瞬间温变速率一定大于25℃/min，相比较三箱式冷热冲击箱，会更严苛，如果代替，可能造成不一样的失效模式。

HASS高加速应力筛选（热应力）也是ESS的一种测试方法，只是温变速率要求达到40℃/min以上，是以HALT高低温极限试验完后，经裁剪而得出的HASS试验条件，测试理念是在基于早期的ESS方法，只是施加更强的应力，来帮助客户更快捷，更有效的筛选产品早期故障。