发展至今，医疗行业始终存在一些争议，多大电流是最适用的测试电流，以此来检查医疗与非医疗设备的保护接地导体的完整性。在根本上，一些人倾向于使用25A亦或是10A的高测试电流，因为这是IEC 60601-1要求的一部分，他们认为这可以最好地检测到任何受损的接地导体。除此之外，之前模拟仪器广泛用于低电阻测量的情况下，一般应要使用高测试电流来产生足够的电压降，以产生必要的针偏转。但紧随着现代电子技术与数字技术的发展，这一行为不再必要。随着手持式测试仪器的增长，其他人倾向于使用1A或是更低的测试电流，以此来避免对被测设备造成任何损坏的风险。
实际上，不同的测试电流都具备不同的优势。各种国际标准与实践规范都推荐了从25A到200mA的各种测试电流。但是，对于常规测试、非医疗设备维修后的测试以及固定装置的测试，大多数欧洲标准现在都规定测试电流为200mA。
保护接地导体的主要目的是在防止触电，允许在故障条件下电流通过。在I类电气设备中，保护接地导体的电阻应该要足够低，以此避免外部金属部件上的电压升高到危险水平。
各种国家与国际标准规定了保护接地导体的最大允许电阻水平，与医疗设备相关的预防措施比与工业、商业以及电气产品相关的预防措施都十分严格。这些标准不仅规定了最大电阻值，同时也定义了测试电流、开路电压以及测试持续时间。按照测试进行的时间，在设计阶段、符合性测试阶段、制造与运行测试中，不同的标准将适用。对于任何一种医疗设备，保护接地导体很可能是由连接设备到电源点的各种长度的柔性电缆组成的。同时也有一定几率存在各种类型的开关机制，包括继电器和电气开关。所以，对保护接地导体的任何测量都会遇到体电阻和接触电阻两种形式。这两种电阻类型都会对不同测试方法的使用产生影响，这些测试方法具备不同的电流、电压以及时间持续时间。
体电阻是导体路径的材料决定，其本身通常保持恒定，缺点就是会受到温度的影响，在某些情况下还会受到物理压力状态的影响。
比看起来的接触面积通常小得多。在这种情况下，在电流通过这些峰值点亦或是界面处的小接触点时，会产生收缩电阻。材料表面形成的氧化物和污垢层也会产生膜电阻。这些氧化物的电阻比接头两侧的导电材料的电阻要高。
【增加两个表面之间的力】
根据上图展示，通过增加两个表面之间的压力，便能够降低抗收缩性。薄膜电阻一般能够通过清洁两个触点之间的表面来克服，不过这并非总是可行的，此外在清洁连接后，氧化可能立即再次发生。如下图展示了通过降低收缩电阻对总电阻的影响。
【降低收缩电阻对总电阻的影响】
接触电阻是一种出现在两个导电表面之间的电阻。接触电阻由收缩电阻与膜电阻所构成，而且会取决于接触的两个表面之间的接触力。
仔细检查两种导电材料之间的接触界面便会知道，肉眼看起来可能平坦均匀的表面，在显微镜下观察时，总会出现一系列粗糙的山峰和山谷。
但是，这两个接合面因此只会在其表面峰值粗糙点相遇的地方相互接触，因此实际接触面积与膜电阻不同，接触电阻会伴随两个表面之间施加的力增大而减小，因此总电阻也会减小。体积电阻被假定为恒定不变。在我们的实验室进行的测试表明了膜电阻与通过触点的电流水平之间的关系的影响。
下图中展示了在典型的IEC连接中，薄膜电阻对测试电流的影响。在测试的每个阶段，测试电流都会增加，并测量总电阻。随着测试电流的增加（蓝色所示，上升），薄膜电阻会随之减少。在该次的测试中，在测试电流达到8安培的情况下，薄膜电阻完全消除，一旦达到这一点，测试电流会逐步减少（红色所示，下降）。
【对于典型的 IEC 引线，膜电阻相对于测试电流的影响】
通过测试可知，一旦现有连接中的膜电阻被清除，膜电阻不再影响总电阻测量。在该次的测试中，保持了体电阻与收缩电阻恒定。所以，这代表着当考虑膜电阻的情况下，测试电流的水平会影响测量结果。
较高的25A测试电流所带来的预期好处在于，其可以克服膜电阻的影响。可相反地，过高的测试电流水平会造成整个保护接地导体路径的温度升高。假设持续时间足够长，这将对电阻值的测量产生重大影响。在保护接地导体受损、大部分股线断裂的情况下，高电流测试也可以利用使电缆“熔化”来检测到损坏。熔化是由于测试电流的加热效应——电流流动产生热量，电线熔化分开，导致开路。熔化作用是基于电缆温度升高引起的，所以电缆熔化需要一定的时间。
温度的升高以及受损电缆的熔接能力取决于测试电流与测试持续时间。在保护性熔断器中，这被称为 I2t 额定值。电流越大或是测试持续时间越长，受损电缆熔接的概率将会越高。
因此，测试将一根带有断股的电缆熔接起来的概率将取决于断股的数量、测试电流的大小以及测试的持续时间。但是，对一根1.5mm² - 48 x 0.22mm²的绞线电缆进行的测试显示，在30秒内熔接电缆应要95%的股线断裂。然而在实践中接地连续性测试一般会在较短的时间内进行，大约为两到五秒，这使得在25安培电流下发生熔接的可能性不大。接地连续性测试的目的是保障可接触的导电部件（这些部件依靠保护性接地作为防止触电的一种手段）与电源的保护接地相连。
出于诸如信号屏蔽等功能性原因，可能也会有可触及的导电部件与保护接地相连，而这些接地可能不会设计路径来承载高电流。通过它们传递高测试电流可能会导致被测试设备受损。
200mA 测试电流以极快的发展趋势成为欧洲运行测试和维修后测试的标准。尤其是，那些符合 VDE 0751（德国标准）与即将出台的 IEC 62353（医疗电子设备运行和常规测试标准）要求的测试仪器可以采用200mA 测试电流进行精确的电阻测量。使用较低的测试电流，如 200mA，还可以降低或是去除因通过并非为提供保护性接地而设计的接地路径传递高测试电流而对被测设备造成损坏的风险。
采用更高测试电流的原因之一是，被测电阻值约为0.1欧姆，但实际上，更高的测试电流有助于测量过程。然而，这一特定论点失去了一些说服力，因为现代测试技术的进步促使采用低测试电流进行非常精确的电阻测量成为可能。
最近，一种新的低能耗、高电流测试技术被开发出来，克服了以往的接触电阻问题，进一步让1A或200mA测试电流进行保护接地测试的应用得到了更多人的认可。因此，这一新概念成功地克服了测试探头与医疗设备之间的高膜电阻引起的测量误差。
譬如，在测量可拆卸的 IEC 电源线中镀层受损部分的连续性时进行测试。最为关键的是，新的低电流测试技术使得使用电池驱动的测试仪可以完成有效的接地连续性测试，大大提升了手持式安全分析仪的便携性和通用性，同时加快了测试过程。
