icon icon icon
首页 >媒体资讯>技术-知识 > 泰克科技的高性能LPDDR4X-4266MT/s 测试方案

泰克科技的高性能LPDDR4X-4266MT/s 测试方案

2020-03-27 来源:TEK泰克-吉时利 阅读量 :

 泰克科技 



高速串行总线各种新兴标准和技术不断挑战设计和测试测量,若干年来DDR技术已经经历了1-4,JEDEC的标准更新针对DDR5/6不断有新版本发布,当前主流仍采用DDR4、LPDDR4X,泰克也一直跟踪标准最新进展并为工程师工作,致力于成为客户设计团队的真正延伸,努力将突破性创新推向市场。


LPDDR4标准是行业领先的低功耗易失性(DRAM)存储标准,用于存储系统代码,软件应用和用户数据。


由于应用领域的特殊性,DDR总线对传输延时的要求特别高,数据传输和流程控制直接通过多种不同功能的信号线同步协作来完成,典型的信号线包括时钟、DQS、地址、控制和数据信号,仅数据信号线就高达64根,并且地址、控制和数据信号均使用单端信号的方式来传输,测试挑战很大。


客户面临三大挑战,读写分离、信号采集、复杂的标准和繁多的测量项。 


DDR测试三大挑战



1. 读写分离

为了保证传输的效率,DDR通过相同的DQ和DQS信号,使用分时的方式进行数据读取(Read)和数据写入(Write)的操作,用户很难在一次数据采集中仅捕获Read或者仅捕获Write信号。


而Read和Write的测量标准,尤其是时序方面是完全不同的。这就为DDR的测量带来了一个难题,如何才能准确地分离Read和Write,从而分别进行测量?


2. 信号采集

无论是DIMM内存条,还是On-board Chip,如何寻找最佳的测试点,采集到最佳的DDR信号永远是一个挑战性的问题。DDR信号采集必须在最靠近传输线末端的位置,否则信号的反射会非常明显。


绝大部分DDR待测物并不会预留专门的靠近接收端的测试点,甚至连过孔都没有,用户经常面临找不到测试点,或者测试点远离接收端导致信号质量很差。


3. 复杂的标准和繁多的测量项

DDR包含多种不同的信号类型,时钟、DQS、数据、地址和控制信号,每种不同类型的信号都有大量专门的测量项需要分别进行测量,学习和掌握这些测试方法对工程师并不容易。

 ▼ 

泰克科技LPDDR4测试方案

Cadence IP支持JEDEC LPDDR4X/4/3和DDR4标准,提供了成熟的,功能强大的兼容性验证解决方案,适用于知识产权(IP)、片上系统(SoC)和系统级验证。LPDDR4X在LPDDR4的基础上进一步将I / O电压从1.1V降低到0.6V来节省更多功率,支持的 DATA RATE 高达4266MT/s,旨在满足最新一代移动设备(如智能电话、平板电脑、超薄笔记本电脑),以及高级辅助驾驶系统(ADAS)和L3/L4自动驾驶应用对高性能和高存储密度的要求。

LPDDR4X测试-1.jpg

作为Cadence在南京的全资子公司,南京凯鼎电子科技有限公司是一家EDA和IP设计服务提供商,在DDR IP方面,凯鼎电子开发了基于SMIC14SFP工艺的DDR4、LPDDR4以及LPDDR4X 接口的IP, LPDDR4以及LPDDR4X的速率可达4266MT/s是目前国内基于SMIC14SFP工艺的最高速率DDR IP

“ 在DDR IP的验证中,我们采用的是Tektronix高带宽实时示波器+DDRA 分析软件的解决方案。Tektronix解决方案为我们提供了细致全面而且十分便捷的各项参数测量及分析,对我们提高测试测量效率有非常大的帮助和贡献。” 

—— Cadence南京工程师表示


泰克助您应对三大测试挑战


 ▼ 

LPDDR4X测试-2.jpg

对于读写分离问题,泰克使用独有的Search & Mark功能,基于Read和Write之间细微的差别,比如相位、幅度、Preamble长度、控制信号状态,来准确定位并精确测量波形中所有的Read或Write,轻松解决读写分离难题。

1585271427296917.jpg


对于信号采集问题,泰克和合作伙伴Nexus推出DDR专用的Interposer夹具,在保证信号采集质量的同时,使得信号的获取变得非常简单。还可以利用SDLA软件对夹具进行去嵌处理,消除夹具带来的信号完整性损失。

1585271444230977.jpg

面对复杂的标准和繁多的测量项,泰克的DDRA软件支持所有DDR相关标准,包括DDR1/2/3/4,LPDDR1/2/3/4/4X,GDDR3/5,支持JEDEC标准中所有信号完整性相关的测量项,帮助工程师轻松完成测量任务。



在线留言