日本日置 C测试仪 3504-40/3504-50

测量参数

     Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）

测量范围

     C:0.9400pF～20.0000mF
     D:0.00001～1.99000

基本精度

   （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
     ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数

测量频率

     120Hz, 1kHz

测量信号电平

     恒压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V
     测量范围:
     CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
     CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
     CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程   (测量频率 120Hz)

输出电阻

     5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）

显示

     发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）

测量时间

     典型值: 2.0 ms （ 1   kHz, FAST）
     ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

功能

     BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆,   测量值的比较功能, 平均值功能,
Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入   (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)

电源

     AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA

体积及重量

     260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件

     电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1