TSI 1nm 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS™) 3938E57

3938E57 TSI 1nm 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS™)

1纳米SMPS系统结合了TSI在粒子分级和计数方面的传统优势，并采用了能够测量小于1纳米粒子的新技术。优化后的3086型差分静电迁移分析仪能够进一步降低了这些微小粒子的扩散损失。3757型纳米增强仪介于DMA和标准CPC之间，采用二甘醇对1纳米粒子预生长，进而实现CPC检测。新的纳米增强仪设计加强了CPC与纳米增强仪的集成性，使系统的设置和使用更加容易。

研究人员通过使用这些仪器，可以将粒子研究推向令人兴奋的新领域。关键应用包括：

大气研究 -监测新的粒子形成和动力学、云凝聚，并缩小质谱仪与常规粒子粒径分布测量之间的差距。非常适合高污染城市中的亚3nm粒子和粒子源研究以及健康影响因素研究

材料科学 - 系统可以可靠的近实时反馈监测和表征亚3nm粒子，非常适合基于气溶胶的工程纳米粒子合成、纳米粒子功能化、纳米分析化学、反应动力学控制和催化剂合成。

1nm SMPS不仅仅是能观察1nm以上成核的检测器，还是全面的粒子光谱仪，能够以极高的分辨率显示了这些事件中的粒径分布情况。

组件的模块化非常便于用户根据测量需求定制系统：节省您的时间和金钱。如果您已经拥有一套配备了3750 型CPC的3938系列SMPS系统，您只需再增加一台1NM DMA差分静电迁移分析仪和纳米增强仪，无需调整您的分级器和高级中和器，且您将免费更新到最新版本的AIM软件

应用

基础气溶胶研究

通过粒子源（如火焰合成、激光烧蚀、火花产生和成核/凝结）研究粒子成核和粒子生长。

燃烧和发动机排气研究（有机燃料、低于3nm的排放、天然气发动机、塑料成型和焊接

过滤研究

吸入或暴露室研究

*健康影响因素研究*功能和优点中的介绍基于下列假设：SMPS光谱仪包含3082型分级器、1nm DMA差分静电迁移分析仪、3757型纳米增强仪和3750型凝聚核粒子计数器等组件。

特点与优势

快速获得粒径和数量浓度的高分辨率数据

优化使扩散损失最小

1-50nm间通道数多达217个

配合3081A长DMA差分静电迁移分析仪使用，可测量从1nm到1µm 3个粒径数量级的粒子

模块化组件设计，可以根据用户测量需求定制，例如单独使用1nm CPC等。

内置诊断和自动检测系统组件，可以获得可靠和可重复的测量数据。

易于安装和使用的气溶胶仪器管理器（AIM）软件。

多功能的粒子测量方式：适用于多模样品。