SIR-2006B 表面绝缘电阻量测系统
扫瞄式的表面绝缘电阻量测系统(SIR-2006B-250V),可扩充达200轨的迁移量测,而且突破传统扫瞄式表面绝缘电阻量测系统的极限,无法记录迁移结束时间还有纪录迁移发生时间,让客户以最少的设备成本,可以得到最大的生产效益。
产品特点
各轨具备洩漏电流侦测迴路,各轨同步纪录离子迁移状态(发生时间、结束时间、迁移时间)
世界首创轨道发生迁移,不停止量测,可持续记录迁移发生情况
宽裕量测与施加电压0.5V~250V(解析度0.1V)施加电压可正负切换,满足离子迁移、表面绝缘电阻试验条
量测轨道扩充量大,最大可扩充200轨
完整侦测各轨发生迁移状况.不间断持续监控
各层弹性设定(群组、时间、电流保护、洩漏电流侦测点.......等
超值标配40channel超大扩充可到200channel
即时读取时间/电阻值/温度/温度之读值
技术参数
表面绝缘电阻量测系统规格表Surface Insulation Resistance Measurement System Specification | ||
规格 | 表面绝缘电阻量测系统(S1R-2006B) | |
外型尺寸 | 600×1731×850mm(W*H*D)(包含突出部份) | |
电气特性 | 标准轨遒 | 40 Channel(最大200 Channel) |
最大控制 | 5 Group | |
试验设定 | 群组设定Group setting(START/STOP) | |
测定电压范围 | 0.5V~250V(0.5-200V/0.1step,200V以上/1 V Step) | |
电阻量测范围 | 1X10^6Ω~1X10^13Ω | |
泄漏电流测定范围 | 10pA-500uA | |
泄漏电流测定速度 | 1us | |
资料取样速度 | 5 sec | |
Bias Supply方式 | 1 Power Supply→40CH(群组设定启动) | |
电压设定 | Bias&Test电压→40CH(Bias正负电压/test正电压设定) | |
最大试验时间 | 999Hr | |
温湿度量测 | 资料读取&ink台数 | 同时读取/记录各Chamberi温湿度值/最大3台Chamber |
测试时间调整 | 测试时间运转中延长/缩短(1Min~9999Hr任意调整) | |
量测线材 | Bias Cablel断线检出功能 | 断线&短路检出(量测资料经由程式判断) |
Cable线材 | 同轴铁弗龙披覆纯银导线 | |
资料收录 | 收录资料应用 | 16种应用资讯 |
离子迁移资料分析 | 记录迁移发生/结束时间 | |
EXCEL报表转换 | 设定条件资料、量测资料、迁移资料完整转换成EXCEL档案 | |
电源 | AC110V&220V±10%,50/60Hz | |
环境温度 | +5℃~+30℃ | |
标配 | 量测探棒.量测夹具、PCB放置治具、验证用比对电阻(5种不同高阻值1M口~10G |