博电科技动态测试平台 PST6747D IGBT-宜器服务网

产品详情

产品介绍

PST6747D IGBT动态参数测试平台适用于压接式IGBT（无FRD）、IGBT（含FRD）以及压接式FRD不同压力、不同结温条件下的动态参数的测试；满足千级净化间使用要求、主要应用于科研单位、实验室、生产企业等领域。

产品功能

PST6747D IGBT动态参数测试平台由0～5000V/0～300mA电压源单元、储能电容、负载电感、限流电感转换电路、采集控制单元、数字控制单元、压接恒温系统、以及为满足不同测试项目的互锁电路等组成。各功能单元分工明确，独立模块方式，便于安装调试及维修。

PST6747D主控单元采用工控机+FPGA处理器架构，通过多功能键盘实现人机交互，操作界面简单，信息全面（参数、波形、测试状态等）。

软件界面UI设计简洁，各项功能分区明确，使用方便，经过控制过程设计，软件实现多模块的并行控制，大大方便了用户使用相关功能模块，提高了用户体验。

产品特点

PST6747D通过硬件、软件完成电压源短路、过热及信号失真检测；

对于电源信号的短路、过负荷及过温等不正常工况，系统自身具有良好的保护功能。

通过高速采集且具有精度高、短路保护、测试方便及测试结束电容自动放电、随时调整温度、压力；

测试开始及结束提示、光栅安全防护门、语音、声光提示等特点。

技术参数

主要参数	测试范围	精度要求	测试条件
V 集射极电压	50~5000V	200~500V±3%±1V; 500~2000V±2%±2V; 2000~5000V±1%±5V	200~4500V
I 集射极电流	50一5000A	200~500A±3%±1A; 500~1000A±3%±2A; 1000A~5000A±2%±5A	200~4000A
V 栅极电压	-30V~30V	-30~0V±1%±0.1V; 0~+30V±1%±0.1V	-30V~30V
Ig 栅极电流	0~50A	0~50A±1%±0.1A	0~50A
Qg 栅极电荷	400~50000nC	Ig:0~50A±3%±0.1mA;	400~20000nC
t脉冲宽度	10 μs--1000μs	200 μs~1000μs （2000A以下); 10 μs~200μs (2000A以上); 动态测试时需满足在脉宽条件下可得到稳定可测的波形	10μs ~1000μs可设定
R 栅极电阻	0~30Ω	6个阻值，阻值可任意排列组合（便于更换）	0~30Ω
L负载电感值	20μH~2000μH（七档）	20 μH、50μH、100μH、200μH、500μH、1000μH、2000μH可自动切换; 感值±5%±5μH 相应感值档需满足对应测试电流能力	20 uH~-2000uH(七档)
Lo 1 回路寄生电感（人为给定）	100nH~800nH	100nH、200nH、300nH、400nH、500nH、600nH、700nH、800nH可根据设定自动切换	100nH-一800nH
Lo 2 测试回路杂散电感	小于180nH	小于180nH	小于180nH
t(on).t(off) 开通/关断延迟	10~5000ns	10~200±2%±2ns: 200~1000±2%±5ns 1000~5000±1%±10ns
t，t 上升/下降时间	10~5000ns	10~200±2%±2ns; 200~1000±2%±5ns; 1000-5000±1%±10ns
E，E 开通/关断能量	1-20000mJ	1~50mJ±2%±0.1mJ: 50~200mJ±2%±1mJ; 200~1000mJ±2%±2mJ; 1000~10000mJ±1%±5mJ; 10000-20000mJ±1%±10mJ
di/dt	10~50000A/us	10~50000A/us±1%

博电科技 动态测试平台 PST6747D IGBT